只說如何去應用▲熱釋電紅外傳感器放大電路的設計▲深度學習開關電源▲電壓比較器的常用電路▲第十二屆飛思卡爾|回憶▲C語言|聯(lián)合體、結構體▲一種熱釋探測電路的設計▲關于開關電源布局的一些想法▲STM32驅動16位ADC▲華為手機電源拆解#工藝▲電源芯片的選型▲電流走向分析#MOS電路▲LDO的啟動與自動關閉▲大電流分析從電容電感公式說起▲單片機驅動MOS管電路應用▲三極管和MMOS管在電路設計中區(qū)別▲如何使7805輸出電壓達到10V▲實現(xiàn)晶振關閉功能的開關電路▲如何理解LDO中的輸入輸出電容▲開關電源中的這兩個電容電阻▲開關電源中的全部緩沖吸收電路▲電容10uf和▲PCB工程師常遇到的問題總結▲無源濾波電路總結▲儀表放大器仿真及其詳解▲這個電路被稱為硬件工程師的“除草機”▲I2C為什么需要開漏輸出及上拉電阻▲放大器和比較器的比較。上海海谷電子有限公司電子元器件回收獲得眾多用戶的認可。鎮(zhèn)江庫存電子元器件回收中心

即先任意測一下漏電阻，記住其大小。然后交換表筆再測出一個阻值。兩次測量中阻值大的那一次便是正向接法，即黑表筆接的是正極，紅表筆接的是負極。D.使用萬用表電阻擋，采用給電解電容進行正、反向充電的方法，根據(jù)指針向右擺動幅度的大小，可估測出電解電容的容量。3、可變電容器的檢測A）用手輕輕旋動轉軸，應感覺十分平滑，不應感覺有時松時緊甚至有卡滯現(xiàn)象。將載軸向前、后、上、下、左、右等各個方向推動時，轉軸不應有松動的現(xiàn)象。B）用一只手旋動轉軸，另一只手輕摸動片組的外緣，不應感覺有任何松脫現(xiàn)象。轉軸與動片之間接觸不良的可變電容器，是不能再繼續(xù)使用的。C）將萬用表置于R×10k擋，一只手將兩個表筆分別接可變電容器的動片和定片的引出端，另一只手將轉軸緩緩旋動幾個來回，萬用表指針都應在無窮大位置不動。在旋動轉軸的過程中，如果指針有時指向零，說明動片和定片之間存在短路點；如果碰到某一角度，萬用表讀數(shù)不為無窮大而是出現(xiàn)一定阻值，說明可變電容器動片與定片之間存在漏電現(xiàn)象。電感器、變壓器檢測方法與經(jīng)驗1、色碼電感器的的檢測將萬用表置于R×1擋，紅、黑表筆各接色碼電感器的任一引出端，此時指針應向右擺動。根據(jù)測出的電阻值大小。鎮(zhèn)江庫存電子元器件回收中心電子元器件回收，就選上海海谷電子有限公司，用戶的信賴之選，歡迎您的來電！

只有當單向可控硅陽極A與陰極K之間加有正向電壓，同時控制極G與陰極間加上所需的正向觸發(fā)電壓時，方可被觸發(fā)導通。此時A、K間呈低阻導通狀態(tài)，陽極A與陰極K間壓降約1V。單向可控硅導通后，控制器G即使失去觸發(fā)電壓，只要陽極A和陰極K之間仍保持正向電壓，單向可控硅繼續(xù)處于低阻導通狀態(tài)。只有把陽極A電壓拆除或陽極A、陰極K間電壓極性發(fā)生改變（交流過零）時，單向可控硅才由低阻導通狀態(tài)轉換為高阻截止狀態(tài)。單向可控硅一旦截止，即使陽極A和陰極K間又重新加上正向電壓，仍需在控制極G和陰極K間有重新加上正向觸發(fā)電壓方可導通。單向可控硅的導通與截止狀態(tài)相當于開關的閉合與斷開狀態(tài)，用它可制成無觸點開關。雙向可控硅陽極A1與第二陽極A2間，無論所加電壓極性是正向還是反向，只要控制極G和陽極A1間加有正負極性不同的觸發(fā)電壓，就可觸發(fā)導通呈低阻狀態(tài)。此時A1、A2間壓降也約為1V。雙向可控硅一旦導通，即使失去觸發(fā)電壓，也能繼續(xù)保持導通狀態(tài)。只有當陽極A1、第二陽極A2電流減小，小于維持電流或A1、A2間當電壓極性改變且沒有觸發(fā)電壓時，雙向可控硅才截斷，此時只有重新加觸發(fā)電壓方可導通。2、單向可控硅的檢測萬用表選電阻R*1Ω擋。

MSD主要指非氣密性（Non-Hermetic）SMD器件，包括塑料封裝器件、其他透水性聚合物封裝（環(huán)氧、有機硅樹脂等）器件。一般IC、芯片、電解電容、LED等都屬于非氣密性SMD器件。J-STD-020給出了元器件潮濕敏感等級（MoistureSensitivityLevel，MSL）劃分，IPC-M190J-STD-033則針對潮濕敏感元器件（MSD）問題提出了傳輸、包裝、運送及應用方面的建議和要求。元器件濕度敏感等級如表11所示。表11元器件濕度敏感等級表11中部分名詞含義：①MBB：MoistureBarrierBag，即防潮真空包裝袋，該袋同時要考慮ESD保護。②HIC：HumidityIndicatorCard，即濕度顯示卡，顯示包裝袋內(nèi)的潮濕程度，一般有若干圓圈，分別相對濕度10%、20%、30%等，各圓圈內(nèi)原色為藍色，當某圓圈內(nèi)由藍色變?yōu)樽霞t色時，則表明袋內(nèi)已達到該圓圈對應的相對濕度；當某圓圈內(nèi)再由紫紅色完全變?yōu)榈t色時，則表明袋內(nèi)已超過該圓圈對應的相對濕度。若濕度顯示超過30%，即30%的圓圈內(nèi)HIC卡顏色完全變成了淡紅色，表明生產(chǎn)前需要進行烘烤。③警告標簽：WarningLabel，即防潮包裝袋外的含MSIL（MoistureSensitiveIdentificationLabel）符號、芯片的潮濕敏感等級。上海海谷電子有限公司致力于提供電子元器件回收，有需求可以來電咨詢！

JG/T25建筑涂料涂層耐凍融循環(huán)性測定法等標準，可以按照不同產(chǎn)品標準中，關于高低溫循環(huán)、凍融循環(huán)的相關測試方法來開展試驗。主要用于建筑涂料、特殊環(huán)境使用設備等檢測。四、電子元器件老化測試注意事項為了使老化取得滿意的效果，應注意下面幾點：①老化設備應有良好的防自激振蕩措施。②給器件施加電壓時，要從零開始緩慢地增加，去電壓時也要緩慢地減小，否則電源電壓的突變所產(chǎn)生的瞬間脈沖可能會損傷器件。老化后要在標準或規(guī)范規(guī)定的時間內(nèi)及時測量，否則某些老化時超差的參數(shù)會恢復到原來的數(shù)值。③為保證晶體管能在高結溫下老化，應準確測量晶體管熱阻。對于集成電路來說，由于其工作電壓和工作電流都受到較大的限制，自身的結溫溫升很少，如不提高環(huán)境溫度很難達到有效地老化所需的溫度。因此，常溫靜態(tài)功率老化只在部分集成電路（線性電路和數(shù)字電路）中應用。電子元器件回收，就選上海海谷電子有限公司，讓您滿意，歡迎您的來電哦！孝感批量電子元器件回收中心

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    6、溫度循環(huán)：確定光電子器件承受極高溫度和極低溫度的能力，以及極高溫度和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。8、高溫壽命：確定光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。加速老化試驗在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行加速老化。依據(jù)試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進行調整和對可靠性進行計算。1、高溫加速老化：加速老化過程中的基本環(huán)境應力式高溫。在實驗過程中，應定期監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。2、恒溫試驗：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。3、變溫試驗：變化溫度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度（例如，60℃、85℃和100℃）。4、溫度循環(huán)：除了作為環(huán)境應力試驗需要對光電子器件進行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對管電子器件進行加速老化。溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機械穩(wěn)定性的附加說明。金鑒顯微紅外熱點定位測試系統(tǒng)金鑒全自動紅外體溫篩查機體溫異常。鎮(zhèn)江庫存電子元器件回收中心

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