隨著產業鏈向引腳節距0.3mm的CSP、節距小于180祄的倒裝芯片封裝以及更小尺寸發展，采用底部填充材料幾乎是指定可以保證全線成品率的方法。 即將出現的可能 除了滿足不斷變化的機械要求，保證高可靠性之外，電子產品制造商還必須讓產品的成本更具競爭力。面對這樣的挑戰，尚處于研發階段的新底部填充技術，盡管仍處于一個產品的嬰兒期，已經顯示出很好的前景。 非流動型底部填充的優勢在于工藝效率較高，并且減少了設備和人員成本。但在使用底部填充材料時遇到的技術難題使這些優勢都變得不重要了。不過目前市場上出現了含有50%填充成分的非流動型底部填充材料。采用了該比例填充料之后，在保持非流動型底部填充工藝流程的同時，改善了產品的溫度循環性能。底部填充膠的溫度循環（冷熱沖擊）測試簡稱為TC測試。天津環氧粘接膠

底部填充膠空洞產生的原因： 流動型空洞，都是在underfill底部填充膠流經芯片和封裝下方時產生，兩種或更多種類的流動波陣面交會時包裹的氣泡會形成流動型空洞。 流動型空洞產生的原因 ①與底部填充膠施膠圖案有關。在一塊BGA板或芯片的多個側面進行施膠可以提高底填膠流動的速度，但是這也增大了產生空洞的幾率。 ②溫度會影響到底部填充膠的波陣面。不同部件的溫度差也會影響到膠材料流動時的交叉結合特性和流動速度，因此在測試時應注意考慮溫度差的影響。 ③膠體材料流向板上其他元件時，會造成下底部填充膠材料缺失，這也會造成流動型空洞。 流動型空洞的檢測方法 采用多種施膠圖案，或者采用石英芯片或透明基材板進行試驗是了解空洞如何產生，并如何消除空洞的較直接的方法。通過在多個施膠通道中采用不同顏色的下填充材料是使流動過程直觀化的理想方法。 流動型空洞的消除方法 通常，往往采用多個施膠通道以降低每個通道的填充量，但如果未能仔細設定和控制好各個施膠通道間的時間同步，則會增大引入空洞的幾率。采用噴射技術來替代針滴施膠，控制好填充量的大小就可以減少施膠通道的數量，同時有助于對下底部填充膠流動進行控制和定位。云南底部填膠哪家好底部填充膠的流動現象是反波紋形式。

底部填充膠的跌落試驗： 跌落試驗是能比較明顯顯現處使用底填膠和未使用底填膠之間的差別的，據之前公司發布的一些資料來看，正確的使用了底填膠水后，耐跌落的次數會比之前成倍的提高。但是跌落試驗其實影響的因素也很多，另外與實驗的方法和標準也有很大的關系。 跌落樣品的制備：這里一般有幾種情況，第一種是制作一批實驗板（板上就只有BGA元件），第二種是直接將手機的主板作為測試樣品（這里也分已焊接其余元件和未焊接其余元件），第三種就是直接將產品成品（手機、相機等）作為測試。這個取決于每家公司自己設置的標準。往往第一種在某些測試條件下可以達到幾千次的跌落，而后面兩種一般設置的標準都不超過三位數，因為后面兩種情況跌落了若干次以后，主板本身或者外殼等早已跌壞了。

底部填充膠簡單來說就是底部填充之義,常規定義是一種用化學膠水（主要成份是環氧樹脂）對BGA封裝模式的芯片進行底部填充，利用加熱的固化形式，將BGA底部空隙大面積 (一般覆蓋一般覆蓋80%以上)填滿，從而達到加固的目的，增強BGA封裝模式的芯片和PCBA之間的抗跌落性能。底部填充膠還有一些非常規用法，是利用一些瞬干膠或常溫固化形式膠水在BGA封裝模式芯片的四周或者部分角落部分填滿，從而達到加固目的。 底部填充膠能夠迅速地浸透到BGA和CSP底部，具有優良的填充性能;固化之后可以起到緩和溫度沖擊及吸收內部應力，補強BGA與基板連接的作用，進而較大地增強了連接的可信賴性。底部填充膠能形成一致和無缺陷的底部填充層。

目前使用的底部填充系統可分為三類：毛細管底部填充、助焊（非流動）型底部填充和四角或角-點底部填充系統。每類底部填充系統都有其優勢和局限，但目前使用較為普遍的是毛細管底部填充材料。 毛細管底部填充的應用范圍包括板上倒裝芯片（FCOB）和封裝內倒裝芯片（FCiP）。通過采用底部填充可以分散芯片表面承受的應力進而提高了整個產品的可靠性。在傳統倒裝芯片和芯片尺寸封裝（CSP）中使用毛細管底部填充的工藝類似。首先將芯片粘貼到基板上已沉積焊膏的位置，之后進行再流，這樣就形成了合金互連。在芯片完成倒裝之后，采用分散技術將底部填充材料注入到CSP的一條或兩條邊。材料在封裝下面流動并填充CSP和組裝電路板之間的空隙。 盡管采用毛細管底部填充可以極大地提高可靠性，但完成這一工藝過程需要底部填充材料的注入設備、足夠的廠房空間安裝設備以及可以完成精確操作的工人。由于這些投資要求以及縮短生產時間的壓力，后來開發出了助焊（非流動）型底部填充技術。底部填充工藝對全自動點膠機有哪些性能要求呢?溫州芯片環氧封裝膠廠家

底部填充膠是一種低黏度、低溫固化的毛細管流動底部下填料。天津環氧粘接膠

那么，如何選用底部填充膠呢？為大家整理了相關資料提供參考： 1.點膠坍塌： 點膠坍塌是和點膠點高相反的情況，整個元器件向點膠部位傾斜。點膠坍塌的因素就是底部填充膠過稀導致流動性太強，點膠量較少等，當然還有底部填充膠變質，例如儲存條件不好，過期等因素。 2.點膠點高： 一般的underfill點膠正常來說是一團團在那里，有點類似于牙膏擠壓出來的狀態。而點膠點高就是指這一團底部填充膠的高度過高，這個過高是以整個元器件為標準的，高度過高就會產生拉絲現象。點膠點過高的原因有：底部填充膠過于粘稠，缺少良好的流動性。點膠量過多，點膠時推力大，針口較粗等。 3.點膠沒有點到位： 類似于錫膏的虛焊、空焊。針筒未出膠等因素造成的。 KY底部填充膠，高流動性、高純度單組份灌封材料，能夠形成均勻且無空洞的底部填充層，對極細間距的部件快速填充，快速固化，通過消除由焊接材料引起的應力，提高元器件的可靠性和機械性能。天津環氧粘接膠

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