BEX-8508C，P型N型霍爾效應實驗裝置

儀器特點：

1.提供P型和N型兩種硅基半導體霍爾片。

2.雙擲開關可即時切換待測P型和N型霍爾片。

3.全明接線，開放式霍爾片和刀閘組件。

4.小于5mm的磁隙，提供大于500mT的均勻磁場。

5.開放式、模塊化、數字化設計。

主要實驗內容：

1.研究霍爾電壓與霍爾片中工作電流的關系。

2.研究霍爾電壓與磁感應強度（電磁鐵勵磁電流）的關系。

3.研究霍爾片不等位電勢差對霍爾電壓的影響和消除方法。

4.判斷半導體材料的載流子類型。

5.研究P型和N型半導體材料的霍爾系數、載流子濃度、電導率和遷移率。 塞曼效應實驗裝置能讓學生直觀看到磁場對原子光譜的影響。BEX-8206 785nm拉曼測量實驗裝置定制

Brolight杭州博源光電科技有限公司生產的教學儀器產品，包括：【霍爾效應實驗裝置】【P型N型霍爾效應實驗裝置】【材料拉力與楊氏模量測量實驗裝置】【金屬熱膨脹系數實驗裝置】【塞曼效應實驗裝置】【弗蘭克-赫茲實驗裝置】【電子荷質比實驗】【光電效應實驗裝置】【核磁共振實驗裝置】【PN結和波爾茲曼常數】【金屬電子逸出功實驗裝置】【理想真空二極管綜合實驗裝置】【巨磁電阻效應實驗裝置】【激光原理實驗裝置】【光譜分析套件】【785nm拉曼測量實驗裝置】【iToF光速測量實驗裝置】【仿真輻射實驗裝置】【掃描隧道顯微鏡】【原子力顯微鏡】【電能無線傳輸演示實驗裝置】【LED綜合特性測量裝置】【振鏡式激光掃描實驗裝置】【RGB顏色匹配實驗裝置】【激光雷達實驗裝置】【多通道紅外輻射測量裝置】【微波光學組合實驗裝置】【新能源實驗裝置】【太陽能電池基本特性實驗裝置】【氫氧燃料電池實驗裝置】等。振鏡式激光掃描實驗裝置廠家電話原子力顯微鏡，借原子間作用力，對樣品表面微觀形貌進行高精度測量。

BEX-8502A弗蘭克赫茲實驗裝置

【實驗原理】：

電子和原子碰撞時會交換某一定值的能量，且可以使原子從低能級激發到高能級。證明了原子發生躍變時吸收和發射的能量是分立的、不連續的，證明了原子能級的存在，從而驗證了波爾理論。

【儀器概述】：

含有氬原子的真空電子管在燈絲的加熱下產生大量的電子，電子在加速電壓的加速下，與氬原子發生碰撞，進行了能量交換，剩余有較大能量的電子還能沖過反向拒斥電壓而達到板極形成板極電流，該電流被微電流放大器測量得到，從而獲得電流與電壓的變化曲線。

【儀器特點】：

1.軟件處理數據，快速準確畫出波形曲線，明顯看到6個波峰，快速計算電勢差。

2.配合PASCO電壓傳感器或者數據采集接口，可以實時采集大量數據，軟件處理，成為基于電腦的數據采集分析系統。

【實驗內容】：

1、記錄氬原子的弗蘭克-赫茲曲線。

2、計算普朗克常數。

五、使用氬氣管而無需加熱：

相比與其他的氣體（如汞蒸氣），無需定制的加熱裝置，且其化學特性更穩定，實驗過程中處于高激發態原子較少，實驗結果更準確更穩定誤差較小。

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LED 綜合特性測量裝置，測量 LED 各項特性，助力 LED 應用產品研發。BEX-8206 785nm拉曼測量實驗裝置定制

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