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拉曼測量系統 【概述】 拉曼光譜是分子光譜學中一個重要的應用分類，它是依賴入射光進入樣品后，樣品中分子發生振動，導致部分散射光頻率發生變化，而這些頻率發生偏移的光譜就是拉曼光譜。不同物質具有不同的分子振動頻率，這也意味著不同物質具有不同的拉曼光譜特征，因而可以通過這些分子振動的“指紋譜”進行未知樣品的定性分析。同時，拉曼光譜的峰值強度與樣品分子的濃度成正比，因此，拉曼光譜也可用于定量分析。拉曼光譜測試中，基本不需要觸及樣品，很便于進行液體和固體樣品的測試分析。測試時，選擇BRM-760X系列合適波長的窄線寬激光器作為入射光源，根據檢測靈敏度的需求選擇BIM-6002A或BIM-...

博源光電測量系統產品包括：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測量；物質/材料的顏色...

Brolight博源光電專業提供測量系統產品：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測...

杭州博源光電科技有限公司專業生產測量系統產品：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測...

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Brolight博源光電的測量系統產品，包括：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測...

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LD/LED光源測量系統 【概述】LD和LED是較常見的半導體光源，在工業和科研領域都有著廣泛的應用，其光譜特征和功率數值是重要的性能指標。BIX-8801系統提供了光源驅動、器件安裝、光采樣和傳導、光譜和光功率測量等所有涉及的組件。系統包含了以電流驅動控制、溫度驅動控制和器件安裝組件為關鍵的解決方案，電流驅動控制器和溫度驅動控制都可以提供多種規格，為LD和LED器件的研究提供相匹配的設備支撐。 【特點】~選配件豐富，可按需配置。~模塊化設計，集成靈活方便。~平臺化軟件，支持所有設備。~支持多維數據同步分析。 【應用】~半導體發光器件研究。~光電材料特性研究。~激光系統驅...

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BIX-8813吸光度測量系統 【概述】當一束光通過某種物質（通常為溶液）時，物質吸收了部分光能量，則可以用吸光度來衡量光被吸收的程度。吸光度測量被廣泛應用于科研項目的液體和氣體光譜測量技術中，以及工業場景下特定物質的濃度測試。溶液吸光度與濃度的關系被稱為朗伯-比爾定律，可以通過光譜儀測試幾組已知摩爾濃度的溶液樣品，計算出溶液吸光度與濃度關系的匹配曲線，繼而可以測量其他樣品的濃度。與傳統實驗測定吸光度相比，光譜儀測試簡單高效，實驗結果精確可靠，使科研人員脫離了繁雜的實驗操作，減少了人為誤差。光譜儀基于模塊化設計，可以根據不斷變化的實驗需求變換設備配置方案以擴展更多的應用。 【特...

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BIX-8811反射率測量系統 【概述】反射率是物質/材料的基本光學特性，也是光譜測量的基本內容。對于不同種類的樣品，物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美平整表面上的反射是鏡面反射，在毛糙表面上的反射是漫反射，而光在大多數物體表面的反射則介于兩者之間。反射測量可以用于測量元件的反射率，也可以測量分析物體的反射的顏色和化學樣品中的成分信息。當我們對物體進行反射測量時，判斷物體表面主要是哪種反射類型是非常重要的。那些看上去非常光亮的樣品表面大多數是鏡面反射，可采用光纖進行取樣測量，而對于曲面樣品，采用積分球取樣測量更為合適。 【特點】~樣品放置方便，夾具要求不高。~操...

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BIX-8812透過率測量系統 【概述】光譜透過率是指從光學系統出射的光強與入射光學系統的光強之比，反映了整個光學系統的光強損耗情況。透明、半透明物體（包括液體、固體等）的光譜透過率的測量具有重大的現實意義和應用價值，例如根據濾光片的光譜透過率來評價濾光片的質量好壞；玻璃透過率是檢測玻璃合格與否的重要指標；醫療衛生、工業生產、化工合成等領域中液體的透明性檢測。與傳統實驗測定透過率相比，以光譜儀為關鍵搭建的光譜套件，其測試簡單高效，實驗結果精確可靠，使科研人員脫離了繁雜的實驗操作，減少了人為誤差。同時，還可以根據不斷變化的實驗需求變換設備布局；不斷升級的實驗操作和應用使得現在和將來的多...

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