A 用萬用表的歐姆擋測“1”、“2”兩端，其讀數(shù)應為電位器的標稱阻值，如萬用表的指針不動或阻值相差很多，則表明該電位器已損壞。B 檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆檔測“1”、“2”(或“2”、“3”)兩端，將電位器的轉軸按逆時針方向旋至接近“關”的位置，這時電阻值越小越好。再順時針慢慢旋轉軸柄，電阻值應逐漸增大，表頭中的指針應平穩(wěn)移動。當軸柄旋至極端位置“3”時，阻值應接近電位器的標稱值。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉動過程中有跳動現(xiàn)象，說明活動觸點有接觸不良的故障。電感線圈是將絕緣的導線在絕緣的骨架上繞一定的圈數(shù)制成。普陀區(qū)常規(guī)電子元器件檢測

1、COB（Chip On Board）通過綁定將IC裸片固定于印刷線路板上2、COF (Chip On FPC)將芯片固定于FPC上3、COG (Chip On Glass)將芯片固定于玻璃上4、EL (Electro Luminescence)電致發(fā)光，EL層由高分子量薄片構成，用作LCD的EL光源5、FTN (Formutated STN)一層光程補償片加于STN，用于黑白顯示6、LED (Light Emitting Diode)發(fā)光二極管7、PCB (Print Circuit Board)印刷線路板8、QFP (Quad Flat Package)四方扁平封裝9、QTP (Quad Tape Carrier Package)四向型TCP10、SMT (Surface Mount Technology)浦東新區(qū)節(jié)能電子元器件設計作用：二極管的主要特性是單向導電性，也就是在正向電壓的作用下，導通電阻很小；

B 檢測絕緣性能 將萬用表置于R×10k擋，做如下幾種狀態(tài)測試：(1)初級繞組與次級繞組之間的電阻值；(2)初級繞組與外殼之間的電阻值；(3)次級繞組與外殼之間的電阻值。上述測試結果分出現(xiàn)三種情況：(1)阻值為無窮大：正常；(2)阻值為零：有短路性故障；(3)阻值小于無窮大，但大于零：有漏電性故障。3 電源變壓器的檢測A 通過觀察變壓器的外貌來檢查其是否有明顯異常現(xiàn)象。如線圈引線是否斷裂，脫焊，絕緣材料是否有燒焦痕跡，鐵心緊固螺桿是否有松動，硅鋼片有無銹蝕，繞組線圈是否有外露等。

常用穩(wěn)壓二極管的型號及穩(wěn)壓值如下：型號1N4728 1N4729 1N4730 1N4732 1N4733 1N4734 1N4735 1N4744 1N4750 1N4751 1N4761變容二極管變容二極管是根據(jù)普通二極管內部“PN結”的結電容能隨外加反向電壓的變化而變化這一原理專門設計出來的一種特殊二極管。變容二極管在無繩電話機中主要用在手機或座機的高頻調制電路上，實現(xiàn)低頻信號調制到高頻信號上，并發(fā)射出去。在工作狀態(tài)，變容二極管調制電壓一般加到負極上，使變容二極管的內部結電容容量隨調制電壓的變化而變化。變容二極管發(fā)生故障，主要表現(xiàn)為漏電或性能變差：電子元器件的發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史。

對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷，可借助萬用表R×1擋來測量，為保證測量準確，應將熔斷電阻器一端從電路上焊下。若測得的阻值為無窮大，則說明此熔斷電阻器已失效開路，若測得的阻值與標稱值相差甚遠，表明電阻變值，也不宜再使用。在維修實踐中發(fā)現(xiàn)，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象，檢測時也應予以注意。4 電位器的檢測。檢查電位器時，首先要轉動旋柄，看看旋柄轉動是否平滑，開關是否靈活，開關通、斷時“喀噠”聲是否清脆，并聽一聽電位器內部接觸點和電阻體摩擦的聲音，如有“沙沙”聲，說明質量不好。用萬用表測試時，先根據(jù)被測電位器阻值的大小，選擇好萬用表的合適電阻擋位，然后可按下述方法進行檢測。電容器通常簡稱其為電容，用字母C表示。浦東新區(qū)貿易電子元器件供應商

數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng)。普陀區(qū)常規(guī)電子元器件檢測

晶體二極管晶體二極管在電路中常用“D”加數(shù)字表示，如：D5表示編號為5的二極管。作用：二極管的主要特性是單向導電性，也就是在正向電壓的作用下，導通電阻很小；而在反向電壓作用下導通電阻極大或無窮大。因為二極管具有上述特性，無繩電話機中常把它用在整流、隔離、穩(wěn)壓、極性保護、編碼控制、調頻調制和靜噪等電路中。組合電路集成電路是一種采用特殊工藝，將晶體管、電阻、電容等元件集成在硅基片上而形成的具有一定功能的器件，英文縮寫為IC，也俗稱芯片。普陀區(qū)常規(guī)電子元器件檢測

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