Dimension Labs 自研的DL-SPD系列單光子探測器，以其超高靈敏度，成為連接多個領域的科技紐帶。在量子通信領域，作為量子密鑰分發系統的關鍵組件，它像忠誠的 “衛士”，守護著信息傳輸的每一個光子，確保數據加密安全；醫學成像時，它是深入生物樣本的 “偵察兵”，憑借對微弱熒光信號的捕捉，為疾病早期檢測、神經科學研究提供清晰影像。在激光雷達與遙感領域，它猶如 “千里眼”，精確感知障礙物、大氣污染物等，提升遠距離探測能力，為自動駕駛、地理測繪、環境監測提供可靠支持。在工業缺陷檢測中，也能高效完成任務。隨著技術的迭代升級， 維度光電自研的DL-SPD系列產品的應用邊界將不斷拓展。進口探測器成本高？國產化 DL-SPD 降本提效，性能不減！維度創新性研發單光子探測器性能

DL-SPD 系列單光子探測器，是 Dimension Labs 在光子探測領域的新星之作。60% 的探測效率，使其在量子通信與激光雷達應用中脫穎而出，高效捕捉光子，滿足高精度檢測的嚴苛追求。20MHz 的飽和計數率，讓它能夠快速響應高頻光信號，在量子通信中實現信息的高效傳輸，在激光雷達對高速運動目標的檢測中精確把握每一個細節。暗計數低至 100Hz，有效提升了信號質量，在生物醫學、天文學等微弱光信號檢測領域，助力科研人員洞察微觀世界；后脈沖概率極低，確保了數據的可靠性，在工業無損檢測、環境監測等領域，為產業發展提供堅實的數據支撐。DL-SPD 系列單光子探測器正以優良性能，開啟光子探測的新時代。名優單光子探測器價格多波長探測頻繁換設備？400-1700nm 全覆蓋的 DL-SPD 一臺搞定！

Dimension-Labs 匠心打造的 DL-SPD 系列單光子探測器模塊，專為微弱光信號探測而生。借助工作在蓋革模式下單光子雪崩光電二極管的優良性能，實現對單個光子的精確捕捉，光譜響應范圍達 400-1700nm，完美覆蓋可見光與近紅外波段。650nm波長下60%的探測效率，100Hz 的低暗計數、20MHz 的高計數率以及1%的低后脈沖概率，多維度彰顯其高精度探測實力。空間光與光纖光雙輸入設計，針對籠式架構優化設計讓光路搭建更便捷，小巧便攜的模塊化結構讓應用場景不再受限。借助 Dimension-Labs自研的DL-SPC 系列單光子計數器與專業軟件系統，實現微弱光信號的實時采集與分析，可快速完成微弱光信號檢測，自由生成專業圖表，助力科研與工業應用高效推進。

DL-SPD 系列單光子探測器，是 Dimension Labs 創新科技的結晶。60% 的探測效率，使其在量子通信與激光雷達領域，成為高效捕捉光子信號的 “利器”，滿足高精度檢測的嚴苛要求。20MHz 的飽和計數率，賦予它對高頻光信號的 “快速反應” 能力，在量子通信的信息傳輸中高效穩定，在激光雷達對高速運動目標的檢測中精確測量。暗計數低至 100Hz，有效減少了噪聲干擾，在生物熒光成像、天文觀測等微弱光信號檢測中，提高了探測精度；后脈沖概率極低，確保了數據的真實性，在工業無損檢測、環境監測等領域，為科學研究和產業應用提供了可靠的數據支持。DL-SPD 系列產品正以優良的性能，助力各領域探索未知，創造更多可能。科研經費有限？DL-SPD 單光子探測器用性價比打動你！

在單光子探測技術的探索中，Dimension-Labs DL-SPD 系列單光子探測器模塊脫穎而出。它運用蓋革模式下工作的單光子雪崩光電二極管，擁有超高靈敏度，可對微弱的單個光子進行有效探測，工作波長覆蓋 400-1700nm，滿足可見光至近紅外波段的探測需求。650nm 波長處 60% 的探測效率，100Hz 低暗計數、20MHz 高計數率和1% 的后脈沖概率，展現出強大的性能優勢。支持空間光和光纖光雙輸入，體積小巧且安裝便捷，針對籠式系統結構優化，簡化光路搭建復雜度，無論是科研實驗還是工業生產，都能輕松勝任。配套DL-SPC 系列單光子計數器以及相應的專業軟件系統，可實現微弱光信號的實時檢測與深度分析，以多樣的專業圖表形式清晰呈現數據。光路搭建太麻煩？雙輸入 + 即插即用的 DL-SPD 節省 50% 調試時間！弱光單光子探測器購買

單光子級捕捉！20MHz 計數率 + 100Hz 暗計數，DL-SPD 解鎖探測新精度。維度創新性研發單光子探測器性能

工業自動化場景對探測器的耐久性、抗干擾性與響應速度提出嚴苛要求。DL-SPD 模塊針對工業環境優化設計，雙層屏蔽抗干擾結構有效抵御電磁噪聲，確保在激光加工、半導體晶圓檢測、智能裝備定位等場景中穩定運行。20MHz 飽和計數率支持高速流水線實時監測，搭配 1% 后脈沖概率，識別高速運動物體的微弱反射光信號，避免漏檢與誤判。無論是新能源電池缺陷檢測，還是精密器件表面瑕疵篩查，DL-SPD 均能以工業級可靠性提升產線效率，為智能制造注入 “光子級” 檢測精度。維度創新性研發單光子探測器性能