工業(yè)鉑熱電阻的校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 標(biāo)準(zhǔn)器選擇：通常選用高精度的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)作為標(biāo)準(zhǔn)器，其不確定度應(yīng)滿足校準(zhǔn)要求，一般優(yōu)于被校準(zhǔn)工業(yè)鉑熱電阻不確定度的 1/3。例如，被校準(zhǔn)鉑熱電阻的不確定度為 ±0.1℃，則標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)的不確定度應(yīng)優(yōu)于 ±0.03℃。
2. 配套設(shè)備：準(zhǔn)備恒溫槽，要求其溫度均勻性和穩(wěn)定性良好，溫度波動(dòng)度在 ±0.05℃以內(nèi)，溫度均勻性在 ±0.1℃以內(nèi)。還需配備直流電位差計(jì)或數(shù)字多用表等測(cè)量?jī)x器，其分辨率和準(zhǔn)確度要滿足測(cè)量要求，如分辨率應(yīng)達(dá)到 0.1μV。
3. 環(huán)境條件：校準(zhǔn)環(huán)境溫度應(yīng)控制在（20±5）℃，相對(duì)濕度在 45% - 75% 之間，環(huán)境應(yīng)無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾、無振動(dòng)，避免陽光直射和空氣對(duì)流。
4. 被校鉑熱電阻檢查：檢查工業(yè)鉑熱電阻的外觀，保護(hù)管應(yīng)無破損、變形，接線盒應(yīng)完好，引線連接牢固。同時(shí)，測(cè)量其絕緣電阻，絕緣電阻應(yīng)不小于 100MΩ（100V 直流電壓下），以確保其電氣性能良好。

溫濕度記錄儀校準(zhǔn)步驟

1.設(shè)備連接與預(yù)平衡

1.將標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)和精密露點(diǎn)儀與被校記錄儀傳感器并列置于恒溫恒濕箱中心區(qū)，間距≤5cm。

2.通電預(yù)熱30分鐘，初始設(shè)定溫度25℃、濕度50%RH，靜置1小時(shí)消除傳感器滯后效應(yīng)。

2.校準(zhǔn)點(diǎn)選擇

1.溫度校準(zhǔn)點(diǎn)：量程下限、常溫點(diǎn)、上限。

2.濕度校準(zhǔn)點(diǎn)：在20℃環(huán)境下選取20%RH、50%RH、80%RH三點(diǎn)。

3.溫度校準(zhǔn)

1.設(shè)置箱體至-20℃，穩(wěn)定后記錄標(biāo)準(zhǔn)值與記錄儀數(shù)據(jù)，修正零點(diǎn)偏差。

2.升溫至60℃，調(diào)整量程增益使誤差≤±0.5℃。

4.濕度校準(zhǔn)

1.設(shè)定20℃/20%RH，穩(wěn)定30分鐘后校準(zhǔn)低濕點(diǎn)，調(diào)整濕度零點(diǎn)參數(shù)。

2.升濕至80%RH，修正量程線性度，允差≤±3.0%RH。

5.多點(diǎn)驗(yàn)證

1.組合校準(zhǔn)點(diǎn)測(cè)試：-10℃/30%RH、25℃/60%RH、50℃/85%RH。

2.每點(diǎn)穩(wěn)定后記錄10組數(shù)據(jù)，計(jì)算非線性誤差。

6.回程誤差測(cè)試

1.溫度循環(huán)：-20℃→60℃→-20℃，檢測(cè)同溫度點(diǎn)升/降溫偏差。

2.濕度循環(huán)：20%RH→80%RH→20%RH，驗(yàn)證滯后誤差。

7.長(zhǎng)期穩(wěn)定性驗(yàn)證

1.在40℃/75%RH工況下連續(xù)運(yùn)行8小時(shí)，每小時(shí)記錄數(shù)據(jù)。

2.比較大漂移量：溫度≤±0.5℃，濕度≤±3%RH。 連云港溫濕度記錄儀熱工計(jì)量校準(zhǔn)價(jià)格科技先行，熱工計(jì)量選英菲！

數(shù)字式溫濕度計(jì)濕度測(cè)量原理

(1) 電容式濕度傳感器（主流技術(shù)）

• 結(jié)構(gòu)：高分子薄膜（如聚酰亞胺）作為介電質(zhì)，兩側(cè)鍍金屬電極形成電容器。
• 工作機(jī)制：
  • 環(huán)境濕度變化→薄膜吸/脫附水分子→介電常數(shù)變化→電容值改變。
  • 電容值與相對(duì)濕度（%RH）成近似線性關(guān)系（需溫度補(bǔ)償）。
• 典型傳感器：Honeywell HIH4030、Sensirion SHT系列。

(2) 信號(hào)處理流程

1. 電容-頻率/電壓轉(zhuǎn)換：通過振蕩電路將電容變化轉(zhuǎn)換為頻率或電壓信號(hào)。
2. ADC轉(zhuǎn)換：數(shù)字量化濕度信號(hào)。
3. 溫度補(bǔ)償：濕度傳感器受溫度影響，需用溫度測(cè)量值修正濕度讀數(shù)（算法內(nèi)置）。

廉金屬熱電偶校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備

1.主標(biāo)準(zhǔn)器：選用二等標(biāo)準(zhǔn)S型熱電偶或標(biāo)準(zhǔn)黑體爐（溫度范圍覆蓋校準(zhǔn)點(diǎn)，如0~800℃），其擴(kuò)展不確定度≤±1.0℃，需優(yōu)于被校熱電偶的1/3。

2.恒溫源：配置管式爐或恒溫槽（溫度波動(dòng)度≤±1.0℃，均勻性≤±2.0℃），支持升溫速率≤5℃/min，避免溫度過沖。

3.測(cè)量設(shè)備：配備高精度數(shù)字多用表（分辨率0.1μV，誤差≤±0.5μV）或?qū)I(yè)熱電偶校準(zhǔn)儀，內(nèi)置冷端補(bǔ)償功能（誤差≤±0.2℃）。

4.護(hù)管（防止校準(zhǔn)中氧化或污染）。

2. 環(huán)境條件

1.實(shí)驗(yàn)室溫度穩(wěn)定在（20±5）℃，濕度≤70%RH，避免強(qiáng)氣流擾動(dòng)或熱輻射干擾爐體溫場(chǎng)。

2.校準(zhǔn)區(qū)域遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)及高頻設(shè)備，電源接地可靠（接地電阻≤4Ω），確保電信號(hào)穩(wěn)定。

3.管式爐周圍設(shè)置隔熱屏障，防止高溫輻射影響操作安全。

3. 被校熱電偶檢查

1.外觀檢查：電極絲無斷裂、氧化或污染，絕緣瓷管無裂紋，極性標(biāo)識(shí)（正負(fù)極）清晰。

2.絕緣測(cè)試：500V兆歐表測(cè)量電極與保護(hù)管間絕緣電阻≥100MΩ（常溫下）。

3.退火處理：校準(zhǔn)前對(duì)熱電偶進(jìn)行退火，消除加工應(yīng)力。

  4.參考端補(bǔ)償驗(yàn)證：在冰點(diǎn)器（0℃）中測(cè)試?yán)涠搜a(bǔ)償誤差≤±0.5℃，或確認(rèn)補(bǔ)償             導(dǎo)線連接正確。

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校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 選擇校準(zhǔn)環(huán)境：應(yīng)在溫度穩(wěn)定、無明顯氣流和振動(dòng)、清潔且光線充足的環(huán)境中進(jìn)行校準(zhǔn)，理想的環(huán)境溫度波動(dòng)應(yīng)控制在 ±0.2℃以內(nèi)。
2. 準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)器具：需要使用高精度的恒溫槽作為標(biāo)準(zhǔn)溫度源，其溫度均勻性和穩(wěn)定性應(yīng)滿足校準(zhǔn)要求，通常溫度波動(dòng)應(yīng)在 ±0.05℃以內(nèi)。同時(shí)，準(zhǔn)備一支或多支經(jīng)更高等級(jí)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)過的標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)作為參考標(biāo)準(zhǔn)，其精度要比被校準(zhǔn)的Hg溫度計(jì)至少高一個(gè)等級(jí)，比如標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)的最大允許誤差為 ±0.05℃，而被校準(zhǔn)Hg溫度計(jì)的最大允許誤差為 ±0.1℃。
3. 檢查被校溫度計(jì)：觀察**溫度計(jì)的外觀是否有破損、刻度是否清晰、Hg柱是否連續(xù)且無斷裂等情況。

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雙金屬溫度計(jì)的校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 標(biāo)準(zhǔn)器選擇：選用精度等級(jí)至少比被校準(zhǔn)雙金屬溫度計(jì)高一級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)，如二等標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)或高精度的鉑電阻溫度計(jì)等，標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)的測(cè)量范圍應(yīng)覆蓋雙金屬溫度計(jì)的測(cè)量范圍。
2. 輔助設(shè)備：準(zhǔn)備恒溫槽，要求其溫度均勻性和穩(wěn)定性良好，溫度波動(dòng)應(yīng)在 ±0.1℃以內(nèi)；還需準(zhǔn)備用于固定溫度計(jì)的夾具、攪拌器等輔助工具，攪拌器用于使恒溫槽內(nèi)溫度均勻。
3. 環(huán)境條件：校準(zhǔn)環(huán)境溫度應(yīng)保持在（20±5）℃，相對(duì)濕度不大于 80%，周圍無強(qiáng)磁場(chǎng)、無振動(dòng)，且無明顯的空氣對(duì)流。
4. 被校溫度計(jì)檢查：檢查雙金屬溫度計(jì)的外觀，表盤應(yīng)清晰、無破損，指針能靈活轉(zhuǎn)動(dòng)，無卡滯現(xiàn)象，雙金屬溫度計(jì)的感溫元件應(yīng)無變形、損傷等缺陷。