SIR（表面絕緣電阻）測試在電子制造業中扮演著至關重要的角色，是確保產品質量與可靠性的基石。它專注于評估印刷電路板（PCB）和其他電子組件表面的絕緣性能，防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導致的短路問題。通過模擬長期使用條件下的電氣性能變化，SIR測試幫助制造商識別并解決潛在的電氣故障，保障電子產品在各種環境下的穩定運行，從而提高客戶滿意度和市場競爭力。廣州維柯的SIR（表面絕緣電阻）測試測試電壓高達 2000V/5000V 可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度，20ms/所有通道每秒的速度。產生離子遷移的原因，是當絕緣體兩端的金屬之間有直流電場時，這兩邊的金屬就成為兩個電極。海南表面絕緣SIR電阻測試注意事項

廣州維柯信息技術有限公司多通道SIR-CAF實時離子遷移監測系統——GWHR256-500，可在設定的環境參數下進行長時間的測試樣品，觀察并記錄被測樣品阻抗變化狀況。系統可通過曲線、表格的形式對測試數據進行實時監控，測試數據自動存儲和管理，客戶根據需要可導出為Excel表格式，對測試樣品進行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。通道數16-256/128/64/32(通道可選)，測試組數1-16組（組數可選）測試時間1-9999小時(可設置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進）測試電壓1-500VDC（0.1V步進）偏置電壓輸出精度±設置值1%+200mV（5-500VDC）測試電壓輸出精度±設置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。廣東CAF電阻測試智能電阻通過內置的智能芯片和算法，能夠實現更加準確的測量結果。

CAF產生的原因：1、原料問題1)樹脂身純度不良，如雜質太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進速度太快；常使得玻纖束中應有的膠量尚未全數充實填飽造成氣泡殘存。CAF形成過程：1、常規FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時親膠性不良，兩者之間容易出現間隙；3、鉆孔等機械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢不同，則正極部分銅離子在電壓驅動下逐漸向負極遷移。

在精密電子制造業的舞臺上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質量都是產品性能與壽命的基石。隨著技術的飛速發展，PCBA的復雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產過程中產生的污染物，確保電路板的長期可靠性，成為行業共同面臨的挑戰。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實時離子遷移監測系統，正是這一挑戰的解決方案。【深度洞察，精確監測】GWHR256系統遵循IPC-TM-650標準，專為PCBA的可靠性評估而設計，它能夠實時監控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導電陽極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現象。這意味著在焊劑殘留、有機酸鹽類、松香等污染物可能導致的電性能退化之前，該系統就能預警，為制造商提供寶貴的數據支持，及時調整清洗工藝，避免潛在的失效風險。【多通道優勢，***提升效率】區別于傳統單一通道的監測設備，GWHR256系統具備16-256個通道的高靈活性，能夠同時監測多組樣品，極大提高了測試效率。無論是大規模生產還是研發階段的小批量驗證，都能靈活應對，滿足不同規模企業的多樣化需求。其強大的數據處理能力，支持測試時間長達9999小時，覆蓋了從短期到長期的***可靠性測試周期，為PCBA的長期性能保駕護航。選擇智能電阻時，用戶需要考慮精度和穩定性。

隨著物聯網和人工智能技術的不斷進步，智能電阻可以與其他智能設備進行連接和交互，實現更高級的功能。例如，智能電阻可以與智能手機或智能家居設備連接，實現遠程控制和監測。這將為電子行業帶來更多的商機和發展空間。智能電阻具有更高的可追溯性。在電子行業中，產品的質量追溯是非常重要的。傳統的電阻測試往往無法提供完整的測試記錄和數據，難以進行產品質量的追溯。而智能電阻通過內置的存儲器和通信模塊，可以實時記錄測試數據，并將數據上傳到云端進行存儲和管理。這樣，不僅可以方便地查看和分析測試數據，還可以追溯產品的質量問題，及時采取措施進行改進和優化。智能電阻有望推動電子行業的智能化發展。電阻測試設備的售后服務對于用戶來說非常重要。廣西電阻測試設備

防止發生離子遷移故障的一個重要措施當然是要保持使用環境的干燥。海南表面絕緣SIR電阻測試注意事項

當一個較小的偏置電壓不能有效地區別更多不同的耐CAF材料和制程時，更高的偏置電壓由于會線性地影響失效時間，應該被避免采用。這是因為過高的偏置電壓會抵消掉相對濕度的影響，而相對濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機制部分。LK_ling:因為陽極導電絲是很細的，很容易被破壞掉。當50%的部分已經失效了，測試即可停止。當CAF發生時，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網絡的阻值接近限流電阻的阻值時，顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中，并不需要調整電壓。9、500個小時的偏置電壓后（一共596個小時），像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后，可以進行額外的T/H/B條件。然而，**少要進行500小時加載偏置電壓的測試，來作為CAF測試的結果之一。海南表面絕緣SIR電阻測試注意事項