電阻測量儀是一種專門用于測量電阻值的儀器。它通過將待測電阻與已知電阻進行比較，從而得到準確的電阻值。電阻測量儀具有高精度、快速測量的特點，適用于各種電阻值的測量。電阻測試夾具是一種用于固定和連接電阻的工具。它通常由導電材料制成，具有良好的導電性能和穩定的連接效果。電阻測試夾具可以幫助工程師快速、準確地進行電阻測試，提高工作效率。選擇電阻測試配件時，首先要考慮其準確性。準確的測試結果對于電子產品的制造和維修至關重要，因此需要選擇具有高精度的電阻測試配件。CAF測試——電路板離子遷移測試的有效方法！貴州多功能電阻測試歡迎選購

Sir電阻測試是一種常用的電阻測試方法，它可以用來測量電路中的電阻值。在電子工程領域中，電阻是一種常見的電子元件，它用來限制電流的流動。因此，了解電路中的電阻值對于電子工程師來說非常重要。Sir電阻測試是一種非接觸式的測試方法，它利用電磁感應原理來測量電路中的電阻值。這種測試方法不需要直接接觸電路，因此可以避免對電路的損壞。同時，Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優點，可以更加快速準確地測量電路中的電阻值。浙江電阻測試系統解決方案?授權手機APP可以遠程進行相關管理、操作，查看樣品監測數據。

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹脂與玻纖紗束之間結合力不足；解決方案：優化CCL制作參數；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹脂奶油層不足；解決方案：優化CCL制作參數；選擇抗分層的材料;樹脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水；樹脂與玻纖清潔度差（含離子成份）；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長，易造成離子遷移；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大

1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發生熔斷。2、導電陽極絲(CAF)目前公認的CAF成因是銅離子的電化學遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯劑產生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。PCB/PCBA絕緣失效失效機理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個簡單而且容易測量的指標，絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場強度以及樣品處理等。絕緣失效通?？赡馨l生在PCB表面或者內部,前者多見于電化學遷移(ECM)或化學腐蝕,后者則多見于導電陽極絲(CAF)。1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發生熔斷。很多用戶在使用電阻測試設備過程中會遇到各種問題。

CAF形成過程：1、常規FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時親膠性不良，兩者之間容易出現間隙；3、鉆孔等機械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢不同，則正極部分銅離子在電壓驅動下逐漸向負極遷移。CAF產生的原因：1、原料問題1)樹脂身純度不良，如雜質太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進速度太快；常使得玻纖束中應有的膠量尚未全數充實填飽造成氣泡殘存。2、流程工藝問題1)孔粗－鉆孔太過粗糙，造成玻纖束被拉松或分離而出現間隙；2)除膠渣－PCB制程之PTH中的除膠渣過度，或沉銅浸入玻纖束發生燈芯效應，過度的燈芯加上孔與孔相距太近時，可能會使得其間板材的絕緣品質變差加速產生ＣＡＦ效應。電阻測試設備比較復雜。湖南CAF電阻測試服務

系統可通過曲線、表格的形式對測試數據進行實時監控，測試數據自動存儲和管理。貴州多功能電阻測試歡迎選購

10、在500小時的偏壓加載后，可以進行額外的T/H/B條件。然而，**少要進行500小時加載偏置電壓的測試，來作為CAF測試的結果之一。11、在確定為CAF失效之前，應該確認連接線兩端的電阻是不是要小于菊花鏈區域的電阻。做法是將菊花鏈附近連接測試線纜的線路切斷。所有的測試結束后，如果發現某塊測試板連接線兩端的電阻確實小于菊花鏈區域的電阻，那么這塊測試板就不能作為數據分析的依據。常規結果判定：1.96小時靜置后絕緣電阻R1≤107歐姆，即判定樣本失效；2.當**終測試絕緣電阻R2<108歐姆，或者在測試過程中有3次記錄或以上出現R2<108歐姆即判定樣本失效。貴州多功能電阻測試歡迎選購