CAF形成過程：1、常規FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時親膠性不良，兩者之間容易出現間隙；3、鉆孔等機械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢不同，則正極部分銅離子在電壓驅動下逐漸向負極遷移。CAF產生的原因：1、原料問題1)樹脂身純度不良，如雜質太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進速度太快；常使得玻纖束中應有的膠量尚未全數充實填飽造成氣泡殘存。2、流程工藝問題1)孔粗－鉆孔太過粗糙，造成玻纖束被拉松或分離而出現間隙；2)除膠渣－PCB制程之PTH中的除膠渣過度，或沉銅浸入玻纖束發生燈芯效應，過度的燈芯加上孔與孔相距太近時，可能會使得其間板材的絕緣品質變差加速產生ＣＡＦ效應。電阻測試是一種常見的電子測試方法。廣西SIR表面絕緣電阻測試方法

1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發生熔斷。2、導電陽極絲(CAF)目前公認的CAF成因是銅離子的電化學遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯劑產生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。PCB/PCBA絕緣失效失效機理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個簡單而且容易測量的指標，絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場強度以及樣品處理等。絕緣失效通常可能發生在PCB表面或者內部,前者多見于電化學遷移(ECM)或化學腐蝕,后者則多見于導電陽極絲(CAF)。1、電化學遷移(ECM)電化學遷移是在直流電壓的影響下發生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發生熔斷。廣西表面絕緣SIR電阻測試哪家好智能電阻是一種集成了智能化功能的電阻器件。

表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環境中持續給予PCB一定的偏壓，經過長時間的試驗，觀察線路間是否有瞬間短路或出現絕緣失效的緩慢漏電情形發生。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質，通過表面絕緣電阻（SIR）測試數據可以直接反映PCB的清潔度。當PCB受到離子性物質的污染、或含有離子的物質時，在高溫高濕狀態下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現象（類似錫須，容易造成短路），這種現象稱為離子遷移。當存在這種現象時，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現出來。

電阻測試種類繁多，包括靜態電阻測試、動態電阻測試、溫度電阻測試等。靜態電阻測試是常見的電阻測試方法之一。它通過將待測電阻與一個已知電阻串聯，然后通過測量電路中的電壓和電流來計算待測電阻的阻值。這種測試方法簡單易行，適用于大多數電阻測試場景。在進行靜態電阻測試時，需要注意測試電路的穩定性和準確性，以確保測試結果的可靠性。動態電阻測試是一種更為精確的電阻測試方法。它通過在待測電阻上施加一個交變電壓或交變電流，然后測量電路中的相位差和幅度來計算待測電阻的阻值。與靜態電阻測試相比，動態電阻測試可以消除電路中的噪聲和干擾，提高測試結果的準確性。動態電阻測試常用于對高精度電阻的測試，例如精密儀器和測量設備。智能電阻的應用范圍更加廣，可以滿足不同行業和領域的需求。

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹脂與玻纖紗束之間結合力不足；解決方案：優化CCL制作參數；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹脂奶油層不足；解決方案：優化CCL制作參數；選擇抗分層的材料;樹脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水；樹脂與玻纖清潔度差（含離子成份）；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長，易造成離子遷移；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大絕緣體表面或內部有形成電解質物質的潛在因素。包括絕緣體本身的種類，構成，添加物，纖維性能，樹脂性能。廣州SIR和CAF表面絕緣電阻測試方法

焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。廣西SIR表面絕緣電阻測試方法

Sir電阻測試是一種非接觸式的電阻測試方法，這種測試方法不需要直接接觸電路，因此可以避免對電路的損壞。同時，Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優點，可以快速準確地測量電路中的電阻值。它可以用來測量電路中的電阻值。這種測試方法具有高精度和高速度的優點，可以快速準確地測量電路中的電阻值。同時，它還可以用來檢測電路中的其他問題，如短路和斷路。因此，掌握Sir電阻測試方法對于電子工程師來說非常重要。無論是在實驗室環境還是在工業生產中，Sir電阻測試都可以發揮重要作用，提高工作效率。廣西SIR表面絕緣電阻測試方法