如何選擇適合自己產品的底部填充膠,需重點關注以下幾個方面: 1.與錫膏兼容性: 底部填充膠起到密封保護加固作用的前提是膠水已經固化,而焊點周圍有錫膏中的助焊劑殘留,如果底部填充膠與殘留的助焊劑不兼容,導致底部填充膠無法有效固化,那么底部填充膠也就起不到相應的作用了,因此,底部填充膠與錫膏是否兼容,是底部填充膠選擇與評估時需要重點關注的項目。 2.絕緣電阻: 底部填充膠除起加固作用外,還有防止濕氣、離子遷移的作用,因此絕緣電阻也是底部填充膠需考慮的一個性能。 3.長期可靠性: 底部填充膠主要的作用就是解決BGA/CSP芯片與PCB之間的熱應力、機械應力集中的問題,因此對底部填充膠而言,很重要的可靠性試驗是溫度循環實驗和跌落可靠性實驗。PCB板芯片底部填充點膠加工所用的底部填充膠是一種低黏度、可低溫固化的。亳州快速固化環氧膠廠家
底部填充膠的跌落試驗: 跌落試驗是能比較明顯顯現處使用底填膠和未使用底填膠之間的差別的,據之前公司發布的一些資料來看,正確的使用了底填膠水后,耐跌落的次數會比之前成倍的提高。但是跌落試驗其實影響的因素也很多,另外與實驗的方法和標準也有很大的關系。 跌落樣品的制備:這里一般有幾種情況,第一種是制作一批實驗板(板上就只有BGA元件),第二種是直接將手機的主板作為測試樣品(這里也分已焊接其余元件和未焊接其余元件),第三種就是直接將產品成品(手機、相機等)作為測試。這個取決于每家公司自己設置的標準。往往第一種在某些測試條件下可以達到幾千次的跌落,而后面兩種一般設置的標準都不超過三位數,因為后面兩種情況跌落了若干次以后,主板本身或者外殼等早已跌壞了。石家莊防火電子bga底部填充膠廠家如何選擇合適的底部填充膠?
PCBA元件底部填充膠的選用要求:PCBA上,在BGA器件與PCB基板間形成高質量的填充和灌封底部填充膠的品質與性能至為重要。首先我們需要了解底部填充膠的基本特性:用于BGA/CSP等器件的底部填充膠,是以單組份環氧樹脂為主體的液態熱固膠粘劑,有時在樹脂中添加增韌改性劑,是為了改良環氧樹脂柔韌性不足的弱點。底部填充膠的熱膨脹系數(CTE)﹑玻璃轉化溫度(Tg)以及模量系數(Modulus)等特性參數,需要與PCB基材、器件的芯片和焊料合金等相匹配。通常膠水的Tg的點對CTE影響巨大,溫度低于Tg的點時CTE較小,反之CTE劇烈增加。模量系數的本義是指物質的應力與應變之比,膠水模量是膠水固化性能的重要參數,通常模量較高表示膠水粘接強度與硬度較好,但同時膠水固化時殘留的應力會較大。
底部填充膠的表面絕緣電阻: 我手上有一份針對底填膠SIR的相關測試,摘錄相關方法如下: 檢測項目:表面絕緣電阻 技術要求:參考IPC J-STD-004B Requirements for Soldering Fluxes(大于10^8歐姆以上) 檢測方法:參考IPC-TM-650 2.6.3.7 Surface Insulation Resistance(雙85下168小時) 檢測儀器: 高低溫交變潮熱試驗箱;SIR在線測試系統;立體顯微鏡;高溫箱。 1) IPC J-STD-004B這個技術要求其實是針對阻焊劑的,因為底填膠這個產品并沒有自身的相關標準,很多都是參考IPC里面關于其它材料的標準建立的,如之前的金相切片實驗也是如此; 2)對于環氧體系的膠水(非為導電設計)而言,一般情況下其表面絕緣一般都是在10的12~16次方以上,即使經過了相關環境試驗的考驗,較多就下降一到兩個數量級就穩定了,所以通過以上測試不是什么太大的問題。底部填充膠固化前后顏色不一樣,方便檢驗。
底部填充膠工藝步驟如圖:烘烤—預熱—點膠—固化—檢驗: 一、烘烤環節: 烘烤環節,主要是為了確保主板的干燥。實施底部填充膠之前,如果主板不干燥,容易在容易在填充后有小氣泡產生,在之后的固化環節,氣泡就會發生炸裂,從而影響焊盤與PCB之間的粘結性,也有可能導致焊錫球與焊盤的脫落。 二、預熱環節: 對主板進行預熱,可以提高Underfill底部填充膠的流動性。溫馨提示:反復的加熱勢必會使得PCBA質量受到些許影響,所以建議這個環節建議溫度不宜過高,建議預熱溫度:40~60℃。 三、點膠環節 底部填充膠填充,通常實施方法有操作人員的手動填充和機器的自動填充,無論是手動和自動,一定需要借助于膠水噴涂控制器,其兩大參數為噴涂氣壓和噴涂時間設定。不同產品不同PCBA布局,參數有所不同。底部填充膠還能很好的減少焊接點的應力,將應力均勻分散在芯片的界面上。貴州低硬度底填膠廠家
什么是底部填充膠,為什么使用底部填充膠?亳州快速固化環氧膠廠家
底部填充膠在使用過程中,出現空洞和氣隙是很普遍的問題,出現空洞的原因與其封裝設計和使用模式相關,典型的空洞會導致可靠性的下降。了解空洞形成的不同起因的及其特性,以及如何對它們進行測試,將有助于解決底部填充膠underfill的空洞問題: Under fill底部填充膠空洞檢測的方法。主要有三種: 1.利用玻璃芯片或基板:直觀檢測,提供即時反饋,缺點在于玻璃器件上底部填充膠(underfill)的流動和空洞的形成行與實際的器件相比可能有些細微的偏差。 2.超聲成像和制作芯片剖面:超聲聲學成像是一種強有力的工具,它的空洞尺寸的檢測限制取決于封裝的形式和所使用的儀器; 3.將芯片剝離的破壞性試驗:采用截面鋸斷,或將芯片或封裝從下underfill底部填充膠上剝離的方法,有助于更好地了解空洞的三維形狀和位置,缺點在于它不適用于還未固化的器件。亳州快速固化環氧膠廠家
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