底部填充膠的可返修性與填料以及玻璃化轉變溫度Tg 有關。添加了無機填料的底部填充膠由于固化后膠體強度大，附著在線路板上很難清理，所以如果有返修要求的膠水不能添加填料。Tg是指底部填充膠從玻璃態到高彈態的轉變溫度，超過了Tg 的底部填充膠變軟后易于清理。和固化要求一樣，為了保護元器件，芯片返修加熱溫度不宜過高。如果Tg 高，膠體在100～150℃的操作溫度下難以清理。Tg 溫度低易于清理，但是Tg 太小又不利于增強芯片的機械性和耐熱性。通常可返修的底部填充膠的Tg 建議控制在60～85℃之間較好。底部填充膠的主要作用就是進行底部填充，主要成分還是以環氧樹脂。樂昌芯片包封膠工藝

如何選到合適的底部填充膠？1、熱膨脹系數（CTE）。焊點的壽命主要取決于芯片、PCB和底部填充膠之間的CTE匹配，理論上熱循環應力是CTE、彈性模量E和溫度變化的函數。但根據實驗統計分析顯示CTE1是主要的影響因素。由于CTE2與CTE1相關性很強，不管溫度在（Tg）以下還是（Tg）以上，CTE2都會隨著CTE1增加而增加，因此CTE2也是關鍵因素。2、玻璃轉化溫度。溫度在材料高CTE的情況下對熱循環疲勞壽命沒有明顯的影響，但在CTE比較小的情況下對疲勞壽命則有一定影響，因為材料在溫度點以下和溫度點以上，CTE變化差異很大。實驗表明，在低CTE情況下，溫度越高熱循環疲勞壽命越長。從化快速固化環氧膠廠家倒裝芯片封裝使用底部填充膠能更好延長使用時間，并且保證應用質量，極大提高倒裝芯片的使用壽命。

芯片底部填充膠在常溫下未固化前是種單組份液態的封裝材料，成分主要是環氧樹脂并通常會添加固化劑來使液態固化成固態。芯片底部填充膠是專為覆晶晶片而設計的，由于硅質的覆晶晶片的熱收縮系數比基板材質低很多，因此, 在熱循環測試中會發生相對位移，招致機械疲牢從而引起不良焊接。底部填充膠材料通常是應用毛細作用原理來滲透到覆晶晶片底部，然后固化。它能有效的提高焊點的機械強度，從而提高晶片的使用壽命。目前市場上現有的單組份芯片底部填充膠均需冷藏貯存，使用時需從冰箱內取出來回溫4小時方可使用，這樣就造成了生產效率的降低，而且又需要專業的貯存冰箱，本創造產品解決了冷藏貯存的問題，即可以常溫寄存5個月，而且又不影響其固化速度，即可以在150度下60秒鐘固化。

快速流動可低溫固化的底部填充膠粘劑,包括中心層貝殼層結構的環氧樹脂20～50份,固化劑10～30份,潛伏型固化促進劑5～15份,填料10～30份,表面活性劑為0.01～1.5份,偶聯劑1～2份,所述中心層為高溫固化胺基化合物,所述貝殼層為低溫固化環氧化合物,所述高溫固化胺基化合物的玻璃化轉變溫度高于所述低溫固化環氧化合物的玻璃化轉變溫度.底部填充膠粘劑具有容易可返修的特點,加熱除膠時可以使用更低溫度,降低對主板和元器件的熱損傷,受熱時更容易從主板和元器件上脫落,從而具有優良的可返修效果,返修報廢率低。底部填充膠的儲存溫度介于2℃~8℃之間，使用將之在室溫下放置1小時以上，使產品恢復至室溫才可以使用。

底部填充膠根據毛細作用原理，不同間隙高度和流動路徑，流動時間也不同，因此不同的填充間隙和填充路徑所需填充時間不同，從而容易產生“填充空洞”。為更直觀的評估膠水流動性能，可采用以下方法評估膠水流動性：將刻有不同刻度的載玻片疊在PCB板的上方，中間使用50um的墊紙，使載玻片與PCB間留有間隙，在載玻片一端點一定量膠水，測試膠水流動不同長度所需的時間。由于膠水流動性將隨溫度變化而變化，因此，此實驗可在加熱平臺上進行，通過設置不同溫度，測試不同溫度下膠水流動性。膠水的流動性與錫球間距，錫球尺寸有關。山西bga打的黑膠

底部填充膠與錫膏是否兼容，是底部填充膠選擇與評估時需要重點關注的項目。樂昌芯片包封膠工藝

底部填充膠返修的條件首先是高溫，目的是首先要把焊料熔融，較低一般為217℃。而目前使用的加熱工具有兩種，一個是返修臺，另一個是使用熱風槍，無論是那種工具，如果BGA受熱不均勻，或者受熱不夠，焊料就會出現不完全熔融，拉絲，再去處理就比較困難，所以底部填充膠返修前，焊料的熔融溫度控制非常重要。底部填充膠返修過程，簡單過程描述為芯片周圍膠水鏟除，摘件，元件及板上膠水清理，此過程首先要清理芯片周邊的膠水，而不是直接去撬動芯片，因為容易對芯片造成損壞。CSP或BGA底部填充制程中，大多數用戶都會存在返修的概率，特別是比較高級的芯片，選擇底部填充膠時，首先是要確認好膠水是否可以返修，因為并不是所有的底部填充膠都可以返修，沒注意這點區分，那么需返修的產品就會成為呆滯品，報廢品。樂昌芯片包封膠工藝