底部填充膠除起加固作用外，還有防止濕氣、離子遷移的作用，因此絕緣電阻也是底部填充膠需考慮的一個性能。評估方法，采用線寬為0.4mm、間距為0.5mm的梳型電極。在梳型電極表面涂覆已回溫膠水，并參考膠水廠家提供固化曲線進行固化。將制備好的測試板放在溫度85℃、濕度85%RH的高低溫交變潮熱試驗箱中，并對試驗板施加偏壓為50V DC，進行168h潮熱試驗，使用在線監測系統對其進行阻值測定。要求測得測試板阻值必須大于108Ω。底部填充是倒裝芯片互連工藝的主要工序之一，會直接影響倒裝芯片的可靠性。倒裝芯片是將芯片有源區面對基板，通過芯片上呈陣列排列的焊料凸點來實現芯片與襯底的互連。底部填充膠是一種單組分、低粘度、流動性好、可返修的底部填充劑。南陽單組份環氧樹脂低溫膠廠家

把底部填充膠裝到點膠設備上，很多類型點膠設備都適合，包括：手動點膠機、時間壓力閥、螺旋閥、線性活塞泵和噴射閥。設備的選擇應該根據使用的要求。在設備的設定其間，確保沒有空氣傳入產品中。為了得到好的效果，基板應該預熱以加快毛細流動和促進流平。適合速度施膠，確保針嘴和基板及芯片邊緣的合適距離，確保底部填充膠流動。施膠的方式一般為沿一條邊或沿兩條邊在角交叉。施膠的起始點應該盡可能遠離芯片的中心，以確保在芯片的填充沒有空洞。邵陽填充膠水廠家底部填充膠其良好的流動性能夠適應芯片各組件熱膨脹系數的變化。

底部填充膠空洞檢測方法：Underfill底部填充膠空洞檢測的方法。主要有三種：1利用玻璃芯片或基板：直觀檢測，提供即時反饋，缺點在于玻璃器件上底部填充膠(underfill)的流動和空洞的形成行與實際的器件相比可能有些細微的偏差。2超聲成像和制作芯片剖面：超聲聲學成像是一種強有力的工具，它的空洞尺寸的檢測限制取決于封裝的形式和所使用的儀器；3將芯片剝離的破壞性試驗：采用截面鋸斷，或將芯片或封裝從下underfill底部填充膠上剝離的方法，有助于更好地了解空洞的三維形狀和位置，缺點在于它不適用于還未固化的器件。

為什么要使用Undefill呢？我想法主要可以從三個方面來講。首先是芯片封裝形式的演化，隨著芯片封裝形式的演化，芯片的封裝越來越小，導致錫球的間距也會越來越小，尺寸越來越小，導致單點錫球受到的應力會比大尺寸的錫球要大很多，這個時候我們就需要Undefill來提高錫球焊點的可靠性。第二點，我們可以從不同基材的熱膨脹系數來看，器件本身不同基材的熱膨脹系數有一定差異，在零下40—150度的工作環境當中，會產生熱脹冷縮的應力拉扯，而且這個應力往往集中在焊點上，Undefill材料可以幫助電子元器件均勻分散這個應力。第三點，我們剛說道車輛行駛路況是比較復雜的，經常伴有長期的振動，我們的Undefill材料可以很好地幫助器件來抵抗這種振動的環境。一般底部填充膠是增強BGA組裝可靠性的重要輔料，選擇底部填充膠的好壞對產品可靠性有很大影響。

將CSP（BGA）包的底部和頂部位置先預熱1分鐘，加熱到200-300°C時，焊料開始融化，現在可以移除邊緣已經軟化的底部填充膠，取出BGA。如果不能順利拿出，可以用鑷子輕輕的撬動BGA四周，使其松動，然后取出。抽入空氣出去PCB底層的已熔化的焊料碎細。將PCB板移至80~120°C的返修加熱臺上，用刮刀除掉固化的樹脂膠殘留物。如有必要，可以用工業酒精清洗修復面再進行修復。理想的修復時間是3分鐘之內，因為PCB板在高溫下放置太久可能會受損。另外，我也了解到許多人推薦使用溶劑來清洗底部填充膠，個人不建議使用這種方式，因為對于PCB板來說，本身的涂層就是環氧樹脂，如果溶劑可以把底部填充膠溶解掉的話，那PCB板估計也不能用了。底部填充膠可以提高元器件結構強度和的可靠性，增強芯片和PCBA之間的抗跌落性。中山傳感器灌封保護膠廠家

通?？煞敌薜牡撞刻畛淠z的Tg 建議控制在60～85℃之間較好。南陽單組份環氧樹脂低溫膠廠家

底部填充膠在使用過程中，出現空洞和氣隙是很普遍的問題，出現空洞的原因與其封裝設計和使用模式相關，典型的空洞會導致可靠性的下降。了解空洞形成的不同起因的及其特性，以及如何對它們進行測試，將有助于解決底部填充膠underfill的空洞問題。了解空洞的特性有助于將空洞與它們的產生原因相聯系，其中包括：1.1形狀——空洞是圓形的還是其他的形狀？1.2尺寸——通常描述成空洞在芯片平面的覆蓋面積。1.3產生頻率——是每10個器件中出現一個空洞，還是每個器件出現10個空洞？空洞是在特定的時期產生，還是一直產生，或者是任意時間產生？1.4定位——空洞出現在芯片的某個確定位置還是任意位置？空洞出現是否與互連凸點有關？空洞與施膠方式又有什么關系。南陽單組份環氧樹脂低溫膠廠家