雙頻激光干涉儀不僅具有高精度，還具備普遍的應用范圍。它利用激光的波長作為度量標準，可以對被測長度進行精確測量。在測距過程中，雙頻激光干涉儀通過檢測干涉圖案的變化來推導被測長度。當兩束激光疊加時，它們會產生明暗相間的干涉條紋，這些條紋的位置取決于兩束激光的相位差。通過測量干涉條紋的位置變化，可以得出被測物體的位移量。雙頻激光干涉儀的這一特性，使其在機械測量、光學測量等領域有著普遍的應用，如檢定量塊、量桿、刻尺和坐標測量機等。此外，雙頻激光干涉儀還可以用于測量角度、直線度、平面度等幾何量，以及振動距離和速度等物理量，為各種測量和監測任務提供了強有力的支持。雙頻激光干涉儀內置自檢程序，可智能診斷光路準直狀態。吉林雙頻激光干涉儀

雙頻激光干涉儀的原理是基于兩束頻率相近的激光進行干涉測量。這種干涉儀通過激光器產生兩列具有不同頻率的線偏振光，通常利用塞曼效應或聲光調制來實現。這兩束激光，頻率分別為f1和f2，經過偏振分光器后被分離為參考光和測量光。參考光保持頻率穩定，而測量光則照射到被測物體上，當被測物體移動時，根據多普勒效應，測量光的頻率會發生變化，變為f1±Δf，其中Δf為多普勒頻移，包含了被測物體的位移信息。隨后，這束頻率變化后的測量光與參考光在干涉儀中匯合，形成差頻信號|(f1±Δf)-f2|，該信號由光電探測器轉換為電信號。這個電信號經過電路處理后，通過相位比較或脈沖計數的方式，可以精確計算出被測物體的位移量。雙頻激光干涉儀的這一原理使其具有高精度和抗干擾能力，即使在光強衰減較大的情況下，依然能得到穩定的測量信號。天津雙頻激光干涉儀測量直線度精密導軌生產線上，雙頻激光干涉儀每8小時完成千次自動校準。

國產雙頻激光干涉儀作為高精度測量領域的佼佼者，近年來在國內制造業中扮演著越來越重要的角色。這類干涉儀采用了先進的雙頻激光技術，能夠實現對微小位移的高精度測量，其測量精度往往能達到納米級別，甚至更高。相較于傳統的單頻激光干涉儀，雙頻激光干涉儀具有更強的抗干擾能力和更高的測量穩定性，這使其在半導體制造、精密機械加工、光學元件檢測等多個領域得到了普遍應用。此外，國產雙頻激光干涉儀在設計上充分考慮了用戶的實際需求，不僅操作簡便，而且維護成本相對較低，這對于提升國內制造業的整體競爭力具有重要意義。隨著技術的不斷進步和成本的進一步降低，國產雙頻激光干涉儀的市場占有率有望持續提升。

雙頻激光干涉儀的基本原理是在單頻激光干涉儀的基礎上，結合外差干涉技術發展而來的。其重要在于雙頻激光器能夠發出兩列具有不同頻率的線偏振光。這兩束光在經過偏振分光器后，按照偏振方向被分離，其中一路作為參考光，另一路則作為測量光。當測量光照射到被測目標鏡并反射回來時，由于多普勒效應，其頻率會發生變化，這個變化量與被測目標鏡的位移成正比。反射回來的測量光與參考光在干涉鏡中匯合，形成干涉信號。這個干涉信號包含了被測目標鏡的位移信息，通過光電探測器將其轉換為電信號，并進一步處理，就可以得到被測物體的位移量。雙頻激光干涉儀與工業機器人協同作業，完成復雜曲面三維檢測。

國產雙頻激光干涉儀的工作原理主要基于兩束頻率相近的激光的干涉現象。這種干涉儀通過特定的技術手段，如利用塞曼效應或聲光調制，從激光器中產生兩束頻率分別為f1和f2的激光。這兩束激光經過分光鏡后被分為兩路，一路作為參考光，其頻率保持穩定；另一路則作為測量光，其頻率會因被測物體的位移而產生多普勒頻移Δf。當測量光經移動目標反射后與參考光疊加時，會產生一個差頻信號|(f1 ±Δf) - f2|，這個信號反映了位移引起的頻率變化。通過光電探測器將這一光信號轉換為電信號，并經過電路處理提取出差頻變化量，就可以通過相位比較或脈沖計數的方式精確計算出位移量。在粒子加速器中，雙頻激光干涉儀監測磁鐵支撐結構的微位移。無錫FLE 光纖激光尺

該設備配備觸控顯示屏，支持手勢操作簡化復雜參數設置流程。吉林雙頻激光干涉儀

5530激光校準系統的工作原理還包括利用精密的光學器件進行多種幾何參量的測量。例如，在機床運行路徑上的多個點進行線性測量，以測量線性位移和速度；在機床工作體積的四個對角線上進行線性測量，以檢查體積定位性能；以及在機床運行路徑的多個點上進行角度測量，以測試圍繞垂直于運動軸的旋轉等。這些測量功能使得5530激光校準系統能夠全方面評估機床的性能，包括定位精度、幾何誤差等關鍵指標。系統還能夠記錄國際標準中的機器性能，為生產經理提供每臺機器的已知性能數據，從而幫助制造商優化過程控制，提高生產效率，并降低總體生產成本。這種綜合性的校準解決方案，憑借其獨特的可重復性和可靠性，成為了機床和CMM校準領域選擇的工具。吉林雙頻激光干涉儀