兩個組件呈正對且相對稱布置。兩個組件分別沿導軌的長度方向滑動，可以在方向上任意調節兩個組件的位置，兩個組件呈正對且相對稱布置，當兩個組件同時朝向i芯片時，起到類似人類雙眼的定位功能，對i芯片的特征進行識別并定位i芯片的具位置，方便微型計算機對比i芯片的特征與預設的基準之間的位置關系，進而控制校正平臺結構調整i芯片的位置，為燒錄做好準備。組件包括滑動模塊、兩個調節模塊和拍攝模塊，兩個調節模塊分別沿方向和方向布置，且與滑動模塊呈固定布置，拍攝模塊固定在沿方向布置的調節模塊上。滑動模塊包括與導軌呈滑動連接的滑動件、固定在滑動件上且呈豎立布置的固定板和調節手柄，滑動件具有朝前的前端面，滑動件的前端面形成貫穿滑動件的螺紋通孔，調節手柄嵌入螺紋通孔且與滑動件呈螺紋連接，當調節手柄擰緊并抵接導軌時，滑動件與導軌呈相對固定布置。通過滑動模塊和分別沿方向和方向布置的兩個調節模塊，拍攝模塊可以實現在、、三個方向上的位置調節，保證拍攝模塊可以處于的拍攝位置；當滑動件在導軌上滑動并調節到合適的位置時。擰緊調節手柄使得滑動件與導軌呈相對固定布置，防止滑動件繼續滑動。確保拍攝模塊在方向上處于的位置。三合一的測試分選機就找金創圖電子。無錫半導體測試分選機品牌

    如果下匹配板出于安裝目的而在例如x方向上移動，則銷開始插入引導部分-。在與下匹配板的移動方向相反的方向(-x方向)上朝下方傾斜的引導部分-可朝上方移動下匹配板，并且下匹配板可靠近軌道。隨著下匹配板繼續移動，當銷定位在安置部分-中時，下匹配板和軌道可彼此接觸。接下來參照，第二接合槽可包括第二引導部分-和第二安置部分-。第二引導部分-可在與下匹配板的移動方向(例如，x方向)相反的方向(例如，-x方向)上朝下方傾斜。如果下匹配板出于安裝目的而在例如x方向上移動，則第二銷開始插入第二引導部分-。在與下匹配板的移動方向相反的方向(-x方向)上朝下方傾斜的第二引導部分-可朝上方移動下匹配板，并且下匹配板可靠近軌道。隨著下匹配板繼續移動，當第二銷定位在第二安置部分-中時，下匹配板和軌道可彼此接觸。和是示出了接合槽和接合槽的修改的視。接合槽和第二接合槽可具有相同的形狀。在下文中，將以接合槽為基礎進行描述。在所示的修改中，接合槽可包括引導部分-和-以及安置部分-。引導部分-和-可包括水平部分-和傾斜部分-。本修改與以上參照描述的實施方式的區別之處在于水平部分-包含于引導部分-中。在以上參照描述的實施方式的情況下，引導部分-整體地傾斜。佛山otp測試分選機電話測試分選機臺維修注意事項。

    并且熱變形的方向可基于壓板的中心部分為徑向。具體地，在本實施方式的情況下，個軸可連接至壓板，以鄰接壓板的側部的中點。在這種情況下，對應于這個軸的聯接孔可以是在豎直方向或水平方向上延伸的狹槽。這使得壓板能夠在上下方向和左右方向上熱變形。剩余的個軸可連接至壓板，以鄰接壓板的角部。在這種情況下，對應于剩余的個軸的聯接孔可以是在對角線方向上延伸的狹槽。這使得壓板能夠在對角線方向上熱變形。是根據另一個實施方式的、測試分選機的推動裝置的側視。以下將對區別于前述實施方式的部分進行描述。將省略對壓板和上匹配板的描述。接合槽可在軌道的一個表面(本實施方式中的下表面)上形成。在中，接合槽被示出為t形槽。在下匹配板的上端部分中可設置有待插入接合槽中的突出部。突出部可對接合槽互補。因而，在本實施方式中，突出部也被示出為t形突出部。類似于先前描述的實施方式，可在將下匹配板在x方向上移動的同時安裝下匹配板。此時，突出部可從開始時插入到接合槽中，并可沿接合槽在x方向上滑動。通過采用前述結構，可保持下匹配板相對于軌道的位置。由于接合槽的內表面支承突出部的一個表面(在本實施方式中為上表面)的全部區域。

    本發明涉及測試分選機。背景技術：測試分選機是支持對通過預定制造工藝制造的、諸如半導體裝置的電子部件的測試、根據測試結果按等級分類電子部件、以及將電子部件安裝在用戶盤上的裝置。和是示出了典型的測試分選機的立體和平面。參照和，測試分選機可包括加載裝置、浸泡室、測試室、去浸泡室和卸載裝置。在測試盤和中提供了可安置電子部件的多個插入件。測試盤和可通過多個傳送裝置(未示出)沿預定封閉路線循環。加載裝置能夠在加載位置將安裝在用戶盤上的未測試的電子部件加載到測試盤和中。由于可能在不同的溫度環境下使用電子部件，所以有必要確定該電子部件是否在具體溫度環境下良好工作。在進行測試之前，可在浸泡室中對安裝在測試盤和上的電子部件進行預加熱或預冷卻。經由浸泡室傳送至測試位置并安裝在測試盤和上的電子部件可在測試室中進行測試。具體地，安裝在測試盤和上的電子部件可由推動裝置朝向測試器推動。電子部件和測試器可通過其接觸或接合彼此電連接。在該狀態下，可對電子部件執行測試。推動裝置可包括與測試盤和匹配的匹配板以及用于朝測試盤和移動匹配板的配置。在匹配板的每個中都以矩陣案設置有多個推動器。芯片自動測試分選機說明書。

    燈固定在長管的外表面。處理器與微型計算機、相機和燈電性連接，燈是le燈。拍攝底座與沿方向布置的調節模塊的移動塊呈固定布置，當沿方向布置的調節模塊的移動塊滑動時，拍攝底座隨其移動，實現相機在方向上的位置調節，相機拍攝i芯片，并將拍攝到的畫面傳遞給處理器，處理器提取i芯片的特征，再傳遞給微型計算機，通過與微型計算機中預設的基準對比，實現對i芯片的定位，并由微型計算機控制控制件控制校正平臺結構調節i芯片的位置，le燈在相機拍攝時為相機補光，照亮i芯片，提高相機拍攝的清晰度。掃碼結構包括固定板、掃碼滑塊、掃碼器、光源和芯片放置平臺，掃碼滑塊與龍門焊件呈活動連接，固定板具有朝后的后端面，固定板的后端面的上端與掃碼滑塊呈固定布置，芯片放置平臺具有朝上的延伸板，延伸板與固定板的后端面的下端呈固定布置，固定板具有朝前的前端面，掃碼器與固定板的前端面的中端呈固定布置，光源與固定板的前端面的下端呈固定布置；掃碼器具有朝下的掃描面，當i芯片放入芯片放置平臺，掃碼器的掃描面與i芯片呈正對布置。掃碼結構還包括第四控制件。第四控制件分別與微型計算機、掃碼器和光源呈電性連接。當i芯片放置在芯片放置平臺上后。金創圖的自動測試分選機就是好。中國澳門編帶測試分選機商家

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    除靜電功能的探頭結構包括位置調節模塊、檢測探頭、離子風機和三控制件，位置調節模塊與龍門焊件呈固定布置，檢測探頭以及離子風機均與位置調節模塊呈固定布置，三控制件分別與位置調節模塊、檢測探頭和離子風機呈電性連接；當位置調節模塊調節至離子風機處于i芯片的正上方時，三控制件控制離子風機i芯片上的靜電。檢測探頭具有朝向校正平臺結構的探頭平面，當位置調節模塊調節至檢測探頭的探頭平面與校正平臺結構呈正對布置時。深圳市金創圖電子設備有限公司是一家集研發、銷售、生產和服務于一體的電子制造領域的自動化設備制造企業，工廠面各10000平方，公司主要生產IC燒錄機/測試機。在燒錄測試領域10多年的豐富經驗，公司主要產品有全自動KA3000機型、KA2000機型、KU4000機型、1213D機型、KA42-2000機型等，在知識產權方面，已經取得了多項國家專利技術證書。公司自主研發，走品牌路線的企業發展模式，堅持已客戶和市場需求為導向，圍繞客戶和市場需求持續改善，合作共贏。拓展APP+物聯網，設備租賃等模式，實現客戶、團隊和個人的共同發展。檢測探頭檢測i芯片的燒錄狀態。三控制件與微型計算機呈電性連接。當位置調節模塊調節至離子風機處于i芯片的正上方時。無錫半導體測試分選機品牌