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大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數據讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據時鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數據采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數據采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數據信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數據信號是一樣的。DDR數據總線的一致...

通常我們會以時鐘為基準對數據信號疊加形成眼圖，但這種簡單的方法對于DDR信 號不太適用。DDR總線上信號的讀、寫和三態都混在一起，因此需要對信號進行分離后再進 行測量分析。傳統上有以下幾種方法用來進行讀/寫信號的分離，但都存在一定的缺點。 (1)根據讀/寫Preamble的寬度不同進行分離(針對DDR2信號)。Preamble是每個Burst的數據傳輸開始前，DQS信號從高阻態到發出有效的鎖存邊沿前的 一段準備時間，有些芯片的讀時序和寫時序的Preamble的寬度可能是不一樣的，因此可以 用示波器的脈沖寬度觸發功能進行分離。但由于JEDEC并沒有嚴格規定寫時序的 Preambl...

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規范中沒 有要求進行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保 持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加 生成眼圖，并根據誤碼率要求進行隨機成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似 模板)進行比較。圖5 . 8是DDR4規范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC STAN...

DDR4/5與LPDDR4/5 的信號質量測試 由于基于DDR顆粒或DDR DIMM的系統需要適配不同的平臺，應用場景千差萬別， 因此需要進行詳盡的信號質量測試才能保證系統的可靠工作。對于DDR4及以下的標準 來說，物理層一致性測試主要是發送的信號質量測試；對于DDR5標準來說，由于接收端出 現了均衡器，所以還要包含接收測試。 DDR信號質量的測試也是使用高帶寬的示波器。對于DDR的信號，技術規范并沒有 給出DDR信號上升/下降時間的具體參數，因此用戶只有根據使用芯片的實際快上升/ 下降時間來估算需要的示波器帶寬。通常對于DDR3信號的測試，推薦的示波器和探頭的帶寬在8GHz;...

DDR內存的典型使用方式有兩種： 一種是在嵌入式系統中直接使用DDR顆粒，另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內存模塊，主要用于服務器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內存，主要用于筆記本) 的形式插 在主板上使用。 在服務器領域，使用的內存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內存)沒有額外驅動電路，延時較小，但數據從CPU傳到每個內存顆粒時，UDIMM需要保證CPU到每個內存顆粒之間的傳輸距離相等，設計難度較...

克勞德高速數字信號測試實驗室 DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內存，DDR內存的發展已經經歷了五代，目前 DDR4已經成為市場的主流，DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說，我們通常說的 速率是指其數據線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應的工作時鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數據線上比較高傳輸速率，由于在DDR總線 上會有讀寫間的狀態轉換時間、高阻態時間、總線刷新時間等，因此其實際的總線傳輸速率 達不到這個理想值。 DDR眼圖測試及分析DDR穩定性測試\DDR2一致性測試；貴州DDR一致性測試方案商 自動化一致性測試 因...

測試軟件運行后，示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發等參數進行測量并匯總成一 個測試報告，測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。 自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質量的測試還可以 輔 助 用 戶 進 行 內 存 參 數 的 配 置 ， 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能，用戶可以通過軟件配置改變內存芯片中的匹配電阻，并分析對信號質 量的影響。 除了一致性測試以外，DDR測試軟件還可以支持調試功能。比如在某個關鍵參數測試 失敗后，可以針...

DDR時鐘總線的一致性測試 DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜，主要測試內容可以分為兩方面：波形參數和抖動。波形參數主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規范參數。對這些抖動參數的測試需要用軟件實...

DDR5的接收端容限測試 前面我們在介紹USB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號 下 的 表 現 。 對 于 D D R 來 說 ， D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對 比 較 簡 單 ， 只 是 做 一 些 匹配、時延、閾值的調整。但到了DDR5時代(圖5 . 19),由于信號速率更高，因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調 整 以 及 均 衡 器 技 術 ， 這 也 使 得 ...

DDR規范沒有定義模板，這給用眼圖方式分析信號時判斷信號是否滿足規范要求帶來挑戰。有基于JEDEC規范定義的，ds、，dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數,得出的DDR2533寫眼圖的模板，中間的區域就是模板，中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴格按規范來說的話，中間的模板應該定義為橫著的梯形，因為保持時間是相對于DC參數的，不過用長方形可以定義一個更嚴格的參數要求。 DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求 因為Jedec規范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時間，通過預估的方式可以得岀 快的邊沿時間，但是往往比實際要快，是基于實際PCB板材的情況...

DDR 規范的 DC 和 AC 特性 對于任何一種接口規范的設計，首先要搞清楚系統中傳輸的是什么樣的信號，也就是驅動器能發出什么樣的信號，接收器能接受和判別什么樣的信號，用術語講，就是信號的DC和AC特性要求。 在DDR規范文件JEDEC79R2.pdf的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V，Vref=+1.25V±0.05V，VTT=Vref±0.04V. 在我們的實際設計中，除了要精確設計供電電源模塊之外，還需要對整個電源系統...

克勞德高速數字信號測試實驗室 DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內存，DDR內存的發展已經經歷了五代，目前 DDR4已經成為市場的主流，DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說，我們通常說的 速率是指其數據線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應的工作時鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數據線上比較高傳輸速率，由于在DDR總線 上會有讀寫間的狀態轉換時間、高阻態時間、總線刷新時間等，因此其實際的總線傳輸速率 達不到這個理想值。 DDR3信號質量測試,信號一致性測試。湖北DDR一致性測試聯系方式 相關器件的應用手冊，ApplicationN...

DDR規范沒有定義模板，這給用眼圖方式分析信號時判斷信號是否滿足規范要求帶來挑戰。有基于JEDEC規范定義的，ds、，dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數,得出的DDR2533寫眼圖的模板，中間的區域就是模板，中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴格按規范來說的話，中間的模板應該定義為橫著的梯形，因為保持時間是相對于DC參數的，不過用長方形可以定義一個更嚴格的參數要求。 DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求 因為Jedec規范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時間，通過預估的方式可以得岀 快的邊沿時間，但是往往比實際要快，是基于實際PCB板材的情況...

如果PCB的密度較高，有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設計時),這時就需要有合適的手段把關心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題，可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉接板，有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設計的適配器，使用時要把適配器焊接在DDR的內存顆粒和PCB板中間，并通過轉接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉接板內部有專門的埋阻電路設計，以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。DDR3信號質量測試,信號一致性測試。遼寧信號完整性測試DDR一致性測...

(2)根據讀/寫信號的幅度不同進行分離。如果PCB走線長度比較 長，在不同位置測試時可能讀/寫信號的幅度不太一樣，可以基于幅度進行觸發分離。但是 這種方法對于走線長度不長或者讀/寫信號幅度差別不大的場合不太適用。 (3)根據RAS、CAS、CS、WE等控制信號進行分離。這種方法使用控制信號的讀/寫 來判決當前的讀寫指令，是可靠的方法。但是由于要同時連接多個控制信號以及Clk、 DQS、DQ等信號，要求示波器的通道數多于4個，只有帶數字通道的混合信號示波器才能 滿足要求，而且數字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數字通道的示波器觸發 并采集到的DDR信號波形。 DDR4...

DDR總線一致性測試 工業標準總線一致性測量概述 高速數字系統使用了各種工業標準總線，對這些工業標準總線進行規范一致性測量是確 保系統工作穩定和可靠的關鍵點之一。“一致性”是對英文單詞“Compliance”的中文解釋， 美國把按工業標準規范進行的電氣參數測量叫作一致性測量。 測試這些工業標準總線，完整和可靠的測試方案是非常重要的。完整的測試方案不僅保證測試準確度，還可以大量節省測試時間，提高工作效率。 工業標準總線完整的測試方案一般包括幾部分：測試夾具；探頭和附件；自動測試軟件;測試儀器。 用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調試和驗證的總線解碼器。青海D...

前面介紹過，JEDEC規范定義的DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的，但 是通常DDR芯片采用BGA封裝，引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉接板的方 式，其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳 處的信號質量， 一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的 去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數模型 文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數， 來計算期望位置處的信號波形，再對這個信號做進一步的波形參數測量和統計。展示了典型的DDR4和DDR5信號...

通常測量眼圖很有效的一種方法就是使用示波器的眼圖測量功能，即用時鐘做觸發對數 據信號進行累積，看累積結果的差情況是否在可以容許的范圍內。但遺憾的是，想用這種 方法直接測量DDR的信號質量非常困難，因為DDR信號讀寫時序是不一樣的。 可以看到，寫數據(DQ)的跳變位置對應著鎖存信號(DQS)的中心，而 讀數據的跳變位置卻對應著鎖存信號的邊沿，而且在總線上還有三態，因此如果直接用DQS 觸發對DQ累積進行眼圖測量的話，會得到的結果。 擴展 DDR4 和 LPDDR4 合規性測試軟件的功能。北京DDR一致性測試聯系方式 DDR 規范的 DC 和 AC 特性 對于任何一種接口規范的設...

DDR 規范的 DC 和 AC 特性 對于任何一種接口規范的設計，首先要搞清楚系統中傳輸的是什么樣的信號，也就是驅動器能發出什么樣的信號，接收器能接受和判別什么樣的信號，用術語講，就是信號的DC和AC特性要求。 在DDR規范文件JEDEC79R2.pdf的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V，Vref=+1.25V±0.05V，VTT=Vref±0.04V. 在我們的實際設計中，除了要精確設計供電電源模塊之外，還需要對整個電源系統...

DDR系統設計過程，以及將實際的設計需求和DDR規范中的主要性能指標相結合，我們以一個實際的設計分析實例來說明，如何在一個DDR系統設計中，解讀并使用DDR規范中的參數，應用到實際的系統設計中。某項目中，對DDR系統的功能模塊細化框圖。在這個系統中，對DDR的設計需求如下。 整個DDR功能模塊由四個512MB的DDR芯片組成，選用Micron的DDR存諸芯片MT46V64M8BN-75。每個DDR芯片是8位數據寬度，構成32位寬的2GBDDR存諸單元，地址空間為Add<13..0>，分四個Bank，尋址信號為BA<1..0>。 DDR4 和 LPDDR4 一致性測試應用軟件提供了多種...

DDR 規范的 DC 和 AC 特性 對于任何一種接口規范的設計，首先要搞清楚系統中傳輸的是什么樣的信號，也就是驅動器能發出什么樣的信號，接收器能接受和判別什么樣的信號，用術語講，就是信號的DC和AC特性要求。 在DDR規范文件JEDEC79R2.pdf的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V，Vref=+1.25V±0.05V，VTT=Vref±0.04V. 在我們的實際設計中，除了要精確設計供電電源模塊之外，還需要對整個電源系統...

DDR總線上需要測試的參數高達上百個，而且還需要根據信號斜率進行復雜的查表修 正。為了提高DDR信號質量測試的效率，比較好使用御用的測試軟件進行測試。使用自動 測試軟件的優點是：自動化的設置向導避免連接和設置錯誤；優化的算法可以減少測試時 間；可以測試JEDEC規定的速率，也可以測試用戶自定義的數據速率；自動讀/寫分離技 術簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個統計的結果；能夠根據信號斜率自動計算建 立/保持時間的修正值。DDR4 和 LPDDR4 一致性測試軟件。浙江DDR一致性測試配件制定DDR 內存規范的標準化組織是JEDEC(Joint Electron Device Engineer...

DDR總線上需要測試的參數高達上百個，而且還需要根據信號斜率進行復雜的查表修 正。為了提高DDR信號質量測試的效率，比較好使用御用的測試軟件進行測試。使用自動 測試軟件的優點是：自動化的設置向導避免連接和設置錯誤；優化的算法可以減少測試時 間；可以測試JEDEC規定的速率，也可以測試用戶自定義的數據速率；自動讀/寫分離技 術簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個統計的結果；能夠根據信號斜率自動計算建 立/保持時間的修正值。DDR數據總線的一致性測試。海南信息化DDR一致性測試我們看到，在用通用方法進行的眼圖測試中，由于信號的讀寫和三態都混在一起，因此很難對信號質量進行評估。要進行信號的評估，第...

DDR 規范的 DC 和 AC 特性 對于任何一種接口規范的設計，首先要搞清楚系統中傳輸的是什么樣的信號，也就是驅動器能發出什么樣的信號，接收器能接受和判別什么樣的信號，用術語講，就是信號的DC和AC特性要求。 在DDR規范文件JEDEC79R2.pdf的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V，Vref=+1.25V±0.05V，VTT=Vref±0.04V. 在我們的實際設計中，除了要精確設計供電電源模塊之外，還需要對整個電源系統...

需要注意的是，由于DDR的總線上存在內存控制器和內存顆粒兩種主要芯片，所以 DDR的信號質量測試理論上也應該同時涉及這兩類芯片的測試。但是由于JEDEC只規定 了對于內存顆粒這一側的信號質量的要求，因此DDR的自動測試軟件也只對這一側的信 號質量進行測試。對于內存控制器一側的信號質量來說，不同控制器芯片廠商有不同的要 求，目前沒有統一的規范，因此其信號質量的測試還只能使用手動的方法。這時用戶可以在 內存控制器一側選擇測試點，并借助合適的信號讀/寫分離手段來進行手動測試。DDR2 3 4物理層一致性測試；遼寧DDR一致性測試維修DDR總線上需要測試的參數高達上百個，而且還需要根據信號斜率進行復雜...

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規范中沒 有要求進行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保 持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加 生成眼圖，并根據誤碼率要求進行隨機成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似 模板)進行比較。圖5 . 8是DDR4規范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC STAN...

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數據讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據時鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數據采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數據采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數據信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數據信號是一樣的。用于 DDR、DDR...

DDR時鐘總線的一致性測試 DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜，主要測試內容可以分為兩方面：波形參數和抖動。波形參數主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規范參數。對這些抖動參數的測試需要用軟件實...

相關器件的應用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設計建議，甚至參考設計，有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中，要注意這些信息是否齊備。 參考設計，ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件，廠商一般會提供一些參考設計，以幫助使用者盡快實現解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖，用戶可以根據自己的需求進行更改。 IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的，獲得的方法前面已經講過。 擴展 DDR5 發射機合規性測試軟件的功能。貴州測試服務DDR一致性測試 以上只是 一 些進行DDR讀/寫信號分...

DDR5的接收端容限測試 前面我們在介紹USB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號 下 的 表 現 。 對 于 D D R 來 說 ， D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對 比 較 簡 單 ， 只 是 做 一 些 匹配、時延、閾值的調整。但到了DDR5時代(圖5 . 19),由于信號速率更高，因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調 整 以 及 均 衡 器 技 術 ， 這 也 使 得 ...