硅光芯片耦合測試系統中硅光芯片與激光器的封裝結構,封裝結構包括基座,基座設置與硅光芯片連接的基座貼合面,與激光器芯片和一體化反射鏡透鏡連接的基座上表面;基座設置通孔,通孔頂部開口與一體化反射鏡透鏡的出光面連接,通孔底部開口與硅光芯片的光柵耦合器表面連接;激光器芯片靠近一體化反射鏡透鏡的入光面的一端設置高斯光束出口;激光器芯片的高斯光束方向水平射入一體化反射鏡透鏡的入光面,經一體化反射鏡透鏡的反射面折射到一體化反射鏡透鏡的出光面,穿過通孔聚焦到光柵耦合器表面;基座貼合面與基座上表面延伸面的夾角為a1。通過對基座的底部進行加工形成斜角,角度的設計滿足耦合光柵的較佳入射角。硅光芯片耦合測試系統的優點...
硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面,光芯片的成本非常高,但隨著大規模生產的實現,硅光芯片的低成本成了巨大優勢;硅光芯片的傳輸性能好,因為硅光材料折射率差更大,可以實現高密度的波導和同等面積下更高的傳輸帶寬。像我們的硅光芯片耦合測試系統就應用到了大量的硅光芯片。硅光芯片耦合測試系統優點:價格實惠。上海光子晶體硅光芯片耦合測試系統生產廠家硅光芯片耦合測試系統硅光陣列微調設備,...
針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實驗中,我們得到了超過60%的光纖-波導耦合效率。此外,我們還開發了一款用以實現硅條形波導和狹縫波導之間高效耦合的新型耦合器應用的系統主要是硅光芯片耦合測試系統,理論設計和實驗結果都證明該耦合器可以實現兩種波導之間的無損光耦合。為了消除硅基無源器件明顯的偏振相關性,我們首先利用一種特殊的三明治結構波導,通過優化多層結構,成功消除了一個超小型微環諧振器中心波長的偏振相關性。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:在一個指令周期內可完成一次乘法和一次加法。山西收發硅光芯片耦合測試系統...
針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實驗中,我們得到了超過60%的光纖-波導耦合效率。此外,我們還開發了一款用以實現硅條形波導和狹縫波導之間高效耦合的新型耦合器應用的系統主要是硅光芯片耦合測試系統,理論設計和實驗結果都證明該耦合器可以實現兩種波導之間的無損光耦合。為了消除硅基無源器件明顯的偏振相關性,我們首先利用一種特殊的三明治結構波導,通過優化多層結構,成功消除了一個超小型微環諧振器中心波長的偏振相關性。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:高速性能。北京射頻硅光芯片耦合測試系統加工廠家既然提到硅光芯片耦合測試...
硅光芯片耦合測試系統系統的測試設備主要是包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,通過光矩陣的光路切換,每一時刻在程序控制下都可以形成一個單獨的測試環路。光源出光包含兩個設備,調光過程使用ASE寬光源,以保證光路通過光芯片后總是出光,ASE光源輸出端接入1*N路耦合器;測試過程使用可調激光器,以掃描特定功率及特定波長,激光器出光后連接偏振控制器輸入端,以得到特定偏振態下光信號;偏振控制器輸出端接入1個N*1路光開光;切光過程通過輸入端光矩陣,包含N個2*1光開關,以得到特定光源。輸入光進入光芯片后由芯片輸出端輸出進入輸出端光矩陣,包含N個2*1路光開關,用于切換輸出到多通道光功率計或者PD光...
硅光芯片耦合測試系統是由激光器與硅光芯片集成結構,結構包括:激光器芯片,激光器芯片包括第1波導;硅光芯片,硅光芯片包括第二波導,第二波導及第1波導將激光器芯片發出的光耦合至硅光芯片內;第1波導包括依次一體連接的第1倒錐形波導部,矩形波導部及第二倒錐形波導部;第二波導包括第1氮化硅光芯片,第二氮化硅光芯片及硅光芯片;其中,第1氮化硅光芯片,第二氮化硅光芯片及硅光芯片均包括依次一體連接的第1倒錐形波導部,矩形波導部及第二倒錐形波導部。相比于現有技術中的端面耦合,本實用新型的耦合方式對倒裝焊過程中的對準精度要求更低,即使在對準有誤差的實際工藝條件下,仍然具有較高的耦合效率。硅光芯片耦合測試系統系統已...
為了消除硅基無源器件明顯的偏振相關性,我們首先利用一種特殊的三明治結構波導,通過優化多層結構,成功消除了一個超小型微環諧振器中心波長的偏振相關性。針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實驗中,我們得到了超過60%的光纖-波導耦合效率。此外,我們還開發了一款用以實現硅條形波導和狹縫波導之間高效耦合的新型耦合器應用的系統主要是硅光芯片耦合測試系統,理論設計和實驗結果都證明該耦合器可以實現兩種波導之間的無損光耦合測試。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:具有在單周期內操作的多個硬件地址產生器。黑龍江保偏硅光芯片耦合測試...
硅硅光芯片耦合測試系統及硅光耦合方法,其用以將從硅光源發出的硅光束耦合進入硅光纖,并可減少硅光束背向反射進入硅光源,也提供控制的發射條件以改善前向硅光耦合。硅光耦合系統包括至少一個平坦的表面,平坦的表面與硅光路相交叉的部分的至少一部分上設有若干擾動部。擾動部具有預選的橫向的寬度及高度以增加前向硅光耦合效率及減少硅光束從硅光纖的端面進入硅光源的背向反射。擾動部通過產生復合的硅光束形狀來改善前向硅光耦合,復合的硅光束形狀被預選成更好地匹配硅光纖多個硅光模式的空間和角度分布。硅光芯片耦合測試系統保證產品質量一致性,節約了人力成本,降低對人工的依賴。河南振動硅光芯片耦合測試系統多少錢硅光芯片耦合測試系...
硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具有模斑變換器;通過圖像系統,微調架將光纖端面與耦合波導的模斑變換器耦合對準,固定塊從側面緊挨光纖并固定在基板上;硅光芯片的輸入端和輸出端分別粘貼墊塊并支撐光纖未剝除涂覆層的部分;使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;本發明方案簡易可靠,工藝復雜度低,通用性好,適用于批量制作。將硅光芯片的發射端通過硅光線連接到硅光譜儀,就可以測試硅光芯片的硅光譜等。湖南多模硅光芯片耦合測試系統服務提到...
硅光芯片耦合測試系統中半導體激光器芯片與硅光芯片的耦合結構及耦合方法,該耦合結構包括激光器單元,其包含有激光器芯片;硅光芯片,其上設有波導;以及刻蝕槽,其設置在硅光芯片的耦合端,用于連接激光器單元和硅光芯片。本發明能夠實現半導體激光器芯片與硅光芯片的高效率耦合,有利于為硅光混合集成提供***光源,本發明在硅光芯片耦合端面鍍了增透膜,同時減小了耦合損耗和激光器的RIN噪聲,且在激光器芯片和硅光芯片的縫隙中填充折射率匹配膠,減小了光場散射損耗,進一步減小了耦合損耗。硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路。上海振動硅光芯片耦合測試系統服務硅光芯片耦合測試系統這些有視覺輔助地初始光耦合的...
說到功率飄忽不定,耦合直通率低一直是影響產能的重要因素,功率飄通常與耦合板的位置有關,因此在耦合時一定要固定好相應的位置,不可隨便移動,此外部分機型需要使用專屬版本,又或者說耦合RF線材損壞也會對功率的穩定造成比較大的影響。若以上原因都排除則故障原因就集中在終測儀和機頭本身了。結尾說一說耦合不過站的故障,為防止耦合漏作業的現象,在耦合的過程中會通過網線自動上傳耦合數據進行過站,若MES系統的外觀工位攔截到耦合不過站的機頭,則比較可能是CB一鍵藕合工具未開啟或者損壞,需要卸載后重新安裝,排除耦合4.0的故障和電腦系統本身的故障之后,則可能是MES系統本身的問題導致耦合數據無法上傳而導致不過站的現...
此在確認硅光芯片耦合測試系統耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線等內部結構的故障進行維修。若以上一一排除,則是主板參數校準的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統系統。為防止外部環境的電磁干擾搭載屏蔽箱,來提高耦合直通率。硅光芯片耦合測試系統是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網慢或不找網”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環境對設備EMC干擾的方法與實際使用環境存在較大差異,所以“信號類”返修量一直占有較大的比例。硅...
硅光芯片耦合測試系統應用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的市場定位:光芯片作為光通信系統中的中心器件,它承擔著將電信號轉換成光信號或將光信號轉換成電信號的重任,除了外加能源驅動工作,光器件的轉換能力和效率決定著通信速度。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5G時代的到來,芯片對傳輸速率和穩定性要求更高,硅光芯片相比傳統硅芯的性能更好,在通信器件的高級市場上,硅光芯片的作用更加明顯。未來人們對流量的速度要求比較高,作為技術運營商,5G的密集組網對硅光芯片的需求大增。之所以說硅光芯片定位通信器件的高級市場,這是由于未來的5G將應用在生命科學、超算、量子大數據、無人駕駛等,這些領域對通訊的要求更高...
硅光芯片耦合測試系統是一種應用雙波長的微波光子頻率測量設備,以及一種微波光子頻率測量設備的校正方法和基于此設備的微波頻率測量方法。在微波光子頻率測量設備中,本發明采用獨特的雙環耦合硅基光子芯片結構,可以形成兩個不同深度的透射譜線。該系統采用一定的校準方法,預先得到微波頻率和兩個電光探測器光功率比值的函數,測量過程中,得到兩個電光探測器光功率比值后,直接采用查表法得到微波頻率。該系統將多個光學器件集成在硅基光學芯片上,從整體上減小了設備的體積,提高系統的整體可靠性。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:穩定性好,精度高。浙江多模硅光芯片耦合測試系統價格硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及...
伴隨著光纖通信技術的快速發展,小到芯片間,大到數據中心間的大規模數據交換處理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互聯。目前,主流的光互聯技術分為兩類。一類是基于III-V族半導體材料,另一類是基于硅等與現有的成熟的微電子CMOS工藝兼容的材料。基于III-V族半導體材料的光互聯技術,在光學性能方面較好,但是其成本高,工藝復雜,加工困難,集成度不高的缺點限制了未來大規模光電子集成的發展。硅光芯片器件可將光子功能和智能電子結合在一起以提供潛力巨大的高速光互聯的解決方案。硅光芯片耦合測試系統優點:測試精確。河南硅光芯片耦合測試系統報價硅光芯片耦合測試系統的面向硅光芯片的光模塊封裝結構及方法,封裝...
在硅光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光子芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是至關重要的一步驟,現有的硅硅光芯片耦合測試系統系統是將硅光芯片的輸入輸出端硅光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調硅光,并依靠對輸出硅光的硅光功率進行監控,再反饋到微調架端進行調試。芯片測試則是將測試設備按照一定的方式串聯連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設備通過硅光纖,設備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA硅光芯片的發射端通過硅光纖連接到硅光功率計,使用硅硅光芯片耦合測試系統就可以測試硅光芯片的發端硅光功率。將硅光芯片的發射端通過硅光線連接到硅光譜儀,就可以測試硅光芯片的硅光譜等。硅...
硅光芯片耦合測試系統是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網慢或不找網”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環境對設備EMC干擾的方法與實際使用環境存在較大差異,所以“信號類”返修量一直占有較大的比例。可見,硅光芯片耦合測試系統是一個需要嚴謹的關鍵崗位,在利用金機調好衰減(即線損)之后,功率無法通過的,必須進行維修,而不能隨意的更改線損使其通過測試,因為比較可能此類機型在開機界面顯示滿格信號而在使用過程中出現“掉話”的現象,給設備質量和信譽帶來負面影響。以上是整機耦合的原理和測試存在的意義,也就是設備主板在FT測試之...
伴隨著光纖通信技術的快速發展,小到芯片間,大到數據中心間的大規模數據交換處理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互聯。當前,我們把主流的光互聯技術分為兩類。一類是基于III-V族半導體材料,另一類是基于硅等與現有的成熟的微電子CMOS工藝兼容的材料。基于III-V族半導體材料的光互聯技術,在光學性能方面較好,但是其成本高,工藝復雜,加工困難,集成度不高的缺點限制了未來大規模光電子集成的發展。硅光芯片器件可將光子功能和智能電子結合在一起以及提供潛力巨大的高速光互聯的解決方案。利用硅的高折射率差和成熟的制造工藝,硅光子學被認為是實現高集成度光子芯片的較佳選擇。浙江保偏硅光芯片耦合測試系統哪家好...
在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是尤其重要的一個步驟,現有的硅光芯片耦合測試系統是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調光,并依靠對輸出光的光功率進行監控,再反饋到微調架端進行調試。芯片測試則是將測試設備按照一定的方式串聯連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設備通過光纖,設備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA光芯片的發射端通過光纖連接到光功率計,就可以測試光芯片的發端光功率。將光芯片的發射端通過光線連接到光譜儀,就可以測試光芯片的光譜等。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:處理的應用領域廣。黑龍江多模硅光...
在硅光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光子芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是至關重要的一步驟,現有的硅硅光芯片耦合測試系統系統是將硅光芯片的輸入輸出端硅光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調硅光,并依靠對輸出硅光的硅光功率進行監控,再反饋到微調架端進行調試。芯片測試則是將測試設備按照一定的方式串聯連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設備通過硅光纖,設備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA硅光芯片的發射端通過硅光纖連接到硅光功率計,使用硅硅光芯片耦合測試系統就可以測試硅光芯片的發端硅光功率。將硅光芯片的發射端通過硅光線連接到硅光譜儀,就可以測試硅光芯片的硅光譜等。硅...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產業化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發,模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發相應的有效地耦合工藝來實現耦合實驗,驗證了該結構良好的耦合效率。在此基礎之上,對硅光芯片調制器進行耦合封裝,并對封裝后的調制器進行性能測試分析。主要研究基于硅光芯片調制技術的硅基調制器芯片的耦合封裝及測試技術其實就是硅光芯片耦合測試系統。硅光芯片耦合測試系統的優勢:強電流加載控制子系統采用大功率超導電源對測試樣品進行電流加載。陜西射頻硅光芯片耦合測試系統報價硅...
硅光芯片耦合測試系統使用到一些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是屬于耦合工藝的一部分。在此工藝過程中,輸入及輸出光纖陣列和波導輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,以便通過使用機器視覺精密地校準預粘接間隙的測量,為后面必要的旋轉耦合留出安全的空間。旋轉耦合技術的原理。大體上來講,旋轉耦合是通過使用線性偏移測量及旋轉移動相結合的方法,將輸出光纖陣列和波導的的第1個及結尾一個通道進行耦合,并作出必要的更正調整。輸出光纖陣列的第1個及結尾一個通道和兩個光探測器相聯接。利用硅的高折射率差和成熟的制造工藝,硅光子學被認為是實現高集成度光子芯片的較佳選擇。重慶保偏硅光芯片耦合測試系統供應經過多年發展,...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產業化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發,模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發相應的有效地耦合工藝來實現耦合實驗,驗證了該結構良好的耦合效率。在此基礎之上,對硅光芯片調制器進行耦合封裝,并對封裝后的調制器進行性能測試分析。主要研究基于硅光芯片調制技術的硅基調制器芯片的耦合封裝及測試技術其實就是硅光芯片耦合測試系統。硅光芯片耦合測試系統主要是用整機模擬一個實際使用的環境,測試設備在無線環境下的射頻性能。黑龍江震動硅光芯片耦合測試系統服務硅...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產業化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發,模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發相應的有效地耦合工藝來實現耦合實驗,驗證了該結構良好的耦合效率。在這個基礎之上,對硅光芯片調制器進行耦合封裝,并對封裝后的調制器進行性能測試分析。主要研究基于硅光芯片調制技術的硅基調制器芯片的耦合封裝及測試技術其實就是硅光芯片耦合測試系統。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:可嵌入性。吉林單模硅光芯片耦合測試系統哪里有在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是光子芯片實...
硅光芯片耦合測試系統中應用到的硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面,光芯片的成本非常高,但隨著大規模生產的實現,硅光芯片的低成本成了巨大優勢;硅光芯片的傳輸性能好,因為硅光材料折射率差更大,可以實現高密度的波導和同等面積下更高的傳輸帶寬。當三維的粗耦合結束后,在計算機地控制下,將光纖陣列和波導端面的距離調整到預先設定的距離,進行微耦合。江蘇多模硅光芯片耦合測試系統機構目前,...
硅光芯片耦合測試系統應用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的市場定位:光芯片作為光通信系統中的中心器件,它承擔著將電信號轉換成光信號或將光信號轉換成電信號的重任,除了外加能源驅動工作,光器件的轉換能力和效率決定著通信速度。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5G時代的到來,芯片對傳輸速率和穩定性要求更高,硅光芯片相比傳統硅芯的性能更好,在通信器件的高級市場上,硅光芯片的作用更加明顯。未來人們對流量的速度要求比較高,作為技術運營商,5G的密集組網對硅光芯片的需求大增。之所以說硅光芯片定位通信器件的高級市場,這是由于未來的5G將應用在生命科學、超算、量子大數據、無人駕駛等,這些領域對通訊的要求更高...
硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具有模斑變換器;通過圖像系統,微調架將光纖端面與耦合波導的模斑變換器耦合對準,固定塊從側面緊挨光纖并固定在基板上;硅光芯片的輸入端和輸出端分別粘貼墊塊并支撐光纖未剝除涂覆層的部分;使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;本發明方案簡易可靠,工藝復雜度低,通用性好,適用于批量制作。硅光芯片耦合測試能夠高精度的測量待測試樣的三維或二維的全場測量。重慶保偏硅光芯片耦合測試系統針對不同的硅光芯片...
耦合掉電,即在耦合的過程中斷電致使設備連接不上的情況,如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導致耦合掉電的現象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一,在硅光芯片耦合測試系統過程中,點擊HQ_CFS的“開始”按鈕進行測試時一定要等到“請稍后”出現后才能插上USB進行硅光芯片耦合測試系統,否則就會出現耦合充電,若測試失敗,可重新插拔電池再次進行測試,排除以上操作手法沒有問題后,還是出現充電現象,則是耦合驅動的問題了,若識別不到端口則是測試用的數據線損壞的緣故。硅光芯片耦合測試系統的優點:穩定。黑龍江射頻硅光芯片耦合測試系統哪家好在光芯片領域,芯片...
只要在確認耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線的故障進行維修。若以上一一排除,則是主板參數校準的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統系統。為防止外部環境的電磁干擾搭載屏蔽箱,來提高耦合直通率。硅光芯片耦合測試系統是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網慢或不找網”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環境對設備EMC干擾的方法與實際使用環境存在較大差異,所以“信號類”返修量一直占有較大的比例。可見,硅光芯片耦合測試系統是一...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產業化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發,模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發相應的有效地耦合工藝來實現耦合實驗,驗證了該結構良好的耦合效率。在這個基礎之上,對硅光芯片調制器進行耦合封裝,并對封裝后的調制器進行性能測試分析。主要研究基于硅光芯片調制技術的硅基調制器芯片的耦合封裝及測試技術其實就是硅光芯片耦合測試系統。芯片耦合封裝問題是光子芯片實用化過程中的關鍵問題。保偏硅光芯片耦合測試系統服務硅硅光芯片耦合測試系統及硅光耦合方法,其用以...