分類激光干涉儀主要分為單頻激光干涉儀和雙頻激光干涉儀兩種：單頻激光干涉儀：在20世紀60年代中期出現，**初用于檢定基準線紋尺，后用于在計量室中精密測長。它對環境要求較高，周圍大氣需處于穩定狀態，以避免空氣湍流對測量結果的影響。雙頻激光干涉儀：出現于1970年，適宜在車間中使用。它應用頻率變化來測量位移，對由光強變化引起的直流電平變化不敏感，因此抗干擾能力強。雙頻激光干涉儀常用于檢定測長機、三坐標測量機、光刻機和加工中心等的坐標精度，也可用作測長機、高精度三坐標測量機等的測量系統。三、應用雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。太倉本地雙頻激光干涉儀維保

實時測量：可以實現實時監測和數據采集，適合動態測量。廣泛應用：廣泛應用于材料科學、機械工程、光學測量、精密制造等領域。工作原理：雙頻激光干涉儀的基本原理是利用激光的相干性和干涉現象。當兩束不同頻率的激光光束經過分束器分開后，經過被測物體的反射或透射后再合并，形成干涉條紋。通過分析干涉條紋的變化，可以得到被測物體的位移信息。結論：雙頻激光干涉儀是一種高精度、高靈敏度的測量工具，適用于各種科學研究和工業應用。隨著激光技術和數據處理技術的發展，雙頻激光干涉儀的應用范圍和測量精度將不斷提高。蘇州直銷雙頻激光干涉儀設備廠家由于其高精度和高靈敏度，激光干涉儀在科學研究和工業應用中都具有重要的地位。

雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進行干涉測量的儀器。它通常用于高精度的位移、振動、形變等物理量的測量。雙頻激光干涉儀的工作原理基于光的干涉現象，即當兩束相干光相遇時，會產生干涉條紋，條紋的變化可以用來精確測量物體的位移或其他物理量。主要特點和應用：高精度：雙頻激光干涉儀能夠實現亞納米級別的測量精度，適用于微小位移的檢測。抗干擾能力強：由于使用了兩種不同頻率的激光，干涉儀對環境噪聲和振動的抗干擾能力較強。

干涉儀是一種使用干涉測量技術的光學計量儀器，其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息，從而獲得實驗所關心的物理量。以下是對干涉儀的詳細介紹：一、基本原理具有固定相位差的兩列準單色波的疊加將導致振幅發生變化，從而可以通過測量較容易測量的振幅來獲取波的相位信息。由于幅度變化依賴于相位差的余弦函數，這種幅度的變化有時候在空間表現為周期性的條紋，即干涉條紋。基本構成干涉儀一般由光源、分束器、反射鏡、干涉屏（或檢測器）等組成。光源發出的光經過分束器被分成兩束，分別經由反射鏡反射回來，并在干涉屏（或檢測器）上產生干涉圖樣。其中，各元件的功能如下：激光的出現在世界計量史上具有重大的意義。

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。雙頻激光干涉儀可以在恒溫，恒濕，防震的計量室內檢定量塊，量桿，刻尺和坐標測量機等。它既可以對幾十米的大量程進行精密測量，也可以對手表零件等微小運動進行精密測量，既可以對幾何量如長度、角度．直線度、平行度、平面度、垂直度等進行測量，也可以用于特殊場合，諸如半導體光刻技術的微定位和計算機存儲器上記錄槽間距的測量等等。用穩頻的氦氖激光器作為光源，由于它的相干長度很大，干涉儀的測量范圍可以擴展；太倉本地雙頻激光干涉儀維保

雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進行干涉測量的儀器。太倉本地雙頻激光干涉儀維保

雙頻激光干涉儀激光干涉儀在氦氖激光器上，加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應, 激光器產生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路。一路經偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為*含有f1的光束,另一路成為*含有f2的光束。當可動反射鏡移動時,含有f2的光束經可動反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束，Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應產生的附加頻率,正負號表示移動方向(多普勒效應是奧地利人C.J.多普勒提出的，即波的頻率在波源或接受器運動時會產生變化)。太倉本地雙頻激光干涉儀維保

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