第二條傳輸線中沒有過孔，這條傳輸線是一條均勻微帶。SMA加載與排前條傳輸線相同。巧合的是，盡管這是一個(gè)單端測量，但這條被測的傳輸線外還有另一條平行的傳輸線與其物理相鄰，間距約等于線寬。但是，相鄰的傳輸線上也端接了50歐姆的電阻。是否有可能另外一條跡線的逼近在某種程度上導(dǎo)致了這個(gè)波谷？如果是這樣，另一條線的哪些特征影響了波谷頻率？要回答這個(gè)問題，方法之一是為兩條耦合線的物理結(jié)構(gòu)建立一個(gè)參數(shù)化的模型，驗(yàn)證模擬的插入損耗與測得的插入損耗匹配，然后調(diào)整方面的模型，探索設(shè)計(jì)空間。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性技術(shù)指標(biāo)；DDR測試信號(hào)完整性測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

信號(hào)完整性和低功耗在蜂窩電話設(shè)計(jì)中是特別關(guān)鍵的考慮因素，EP諧波吸收裝置有助三階諧波頻率輕易通過，并將失真和抖動(dòng)減小至幾乎檢測不到的水平。隨著集成電路輸出開關(guān)速度提高以及PCB板密度增加，信號(hào)完整性已經(jīng)成為高速數(shù)字PCB設(shè)計(jì)必須關(guān)心的問題之一。元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號(hào)的布線等因素，都會(huì)引起信號(hào)完整性問題，導(dǎo)致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定，甚至完全不工作。 如何在PCB板的設(shè)計(jì)過程中充分考慮到信號(hào)完整性的因素，并采取有效的控制措施，已經(jīng)成為當(dāng)今PCB設(shè)計(jì)業(yè)界中的一個(gè)熱門課題。DDR測試信號(hào)完整性測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)完整性測試分類時(shí)域測試頻域測試；

每個(gè)示波器都有自己獨(dú)特的頻率響應(yīng)。頻率響應(yīng)是否平坦對于信號(hào)完整性至關(guān)重要。磚墻式頻響示波器的帶外噪聲比較低,而高斯頻響的邊沿振鈴比較低。圖中顯示了8GHz帶寬示波器InfiniiumDSOS804A的幅度響應(yīng)。垂直標(biāo)度已放大到1db/格,8GHz帶寬內(nèi)的頻響幅度變化十分輕微。

兩款示波器測試的是同一個(gè)信號(hào),它們的額定帶寬、采樣率及其他設(shè)置均相同。右圖中的波形精確地再現(xiàn)了被測信號(hào)的各個(gè)頻譜分量,但左圖中的波形卻沒有。為什么有這種區(qū)別?這是因?yàn)?右圖中的示波器采用了校正濾波器,幅度和相位響應(yīng)是平坦的,而左圖中的示波器則不然。

確定信號(hào)衰減的根本原因描述給定設(shè)備的頻率特性時(shí)，工程師可以使用S參數(shù)作為標(biāo)準(zhǔn)。互連的S參數(shù)（無論是在時(shí)域還是在頻域中進(jìn)行測量）了互連的特征模型。該參數(shù)涵蓋了信號(hào)從進(jìn)入一個(gè)端口到離開另一個(gè)端口時(shí)的所有特性信息。為了確定信號(hào)衰減的根本原因，重要的是先要確定您對S參數(shù)的期望值。將期望值與測量值進(jìn)行比較，有助于識(shí)別導(dǎo)致信號(hào)完整性衰減的通道區(qū)域。接下來，您需要更深入地研究被測設(shè)備和設(shè)備之間的連接，以便確定根本原因。對于差分通道，可以使用混合模式S參數(shù)進(jìn)行分析。常見的S參數(shù)是與電磁干擾有關(guān)的差分回波損耗（SDD11）、差分插入損耗（SDD21）和差分至共模轉(zhuǎn)換（SCD21）。在分析傳輸質(zhì)量時(shí)，還需要重點(diǎn)考慮反射因素。每當(dāng)出現(xiàn)瞬時(shí)阻抗變化時(shí)，信號(hào)就會(huì)被反射。反射會(huì)使返回的原始信號(hào)出現(xiàn)延遲（如下圖2所示），并與原始信號(hào)結(jié)合而產(chǎn)生相消干擾。信號(hào)完整性問題應(yīng)循序的11個(gè)基本原則？

一致性達(dá)到了驚人的約8GHz。這表明，沒有出現(xiàn)任何異常情況。沒有出現(xiàn)任何超出兩條耦合有損線正常行為的情況。在此例中，未被驅(qū)動(dòng)的第二條線端接了50歐姆電阻，而模型的設(shè)置也與之匹配。我們看到，當(dāng)一條單線用在一對線當(dāng)中時(shí)，插入損耗上會(huì)出現(xiàn)反常的波谷，而當(dāng)這條單線被隔離時(shí)，波谷并不會(huì)出現(xiàn)。通過場解算器我們證實(shí)了這一點(diǎn)，是相鄰線的接近在某種程度上導(dǎo)致了波谷的產(chǎn)生。引起這種災(zāi)難性的行為效果并不反常，只是很微妙。我們可能花上幾個(gè)星期的時(shí)間在新的板子上陸續(xù)測試一個(gè)個(gè)效果，試圖找出影響此行為的原因。例如，我們可以改變耦合長度、線寬、間距、電介質(zhì)厚度，甚至是介電常數(shù)和耗散因數(shù)，來探尋是什么影響了諧振頻率。我們也可以使用如ADS這樣的仿真工具進(jìn)行同樣的虛擬實(shí)驗(yàn)。只有當(dāng)我們相信工具能準(zhǔn)確地預(yù)測這種行為時(shí)，我們才可以用它來探索設(shè)計(jì)空間。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性的測試方法、系統(tǒng)、裝置及設(shè)備與流程；DDR測試信號(hào)完整性測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

信號(hào)完整性基本定義是指一個(gè)信號(hào)在電路中產(chǎn)生相應(yīng)的能力。DDR測試信號(hào)完整性測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

轉(zhuǎn)換成頻域的TDR/TDT響應(yīng)：回波損耗/插入損耗。藍(lán)線是參考直通的插入損耗。當(dāng)然，如果有一個(gè)完美直通的話，每個(gè)頻率分量將無衰減傳播，接收的信號(hào)幅度與入射信號(hào)的幅度相同。插入損耗的幅度始終為1，用分貝表示的話，就是0分貝。這個(gè)損耗在整個(gè)20GHz的頻率范圍內(nèi)都是平坦的。黃線始于低頻率下的約-30分貝，是同一傳輸線的回波損耗，即頻域中的S11。綠線是此傳輸線的插入損耗，或S21。這個(gè)屏幕只顯示了S參數(shù)的幅度，相位信息是有的，但沒有顯示的必要。回波損耗始于相對較低的值，接近-30分貝，然后向上爬升到達(dá)-10分貝范圍，約超過12GHz。這個(gè)值是對此傳輸線的阻抗失配和兩端的50歐姆連接的衡量。插入損耗具有直接有用的信息。在高速串行鏈路中，發(fā)射機(jī)和接收機(jī)共同工作，以發(fā)射并接收高比特率信號(hào)。在簡單的CMOS驅(qū)動(dòng)器中，一個(gè)顯示誤碼率之前可能可以接受-3分貝的插入損耗。對于簡單的SerDes芯片而言，可以接受-10分貝的插入損耗，而對于先進(jìn)的高級(jí)SerDes芯片而言，則可以接受-20分貝。如果我們知道特定的SerDes技術(shù)可接受的插入損耗，那就可以直接從屏幕上測量互連能提供的比較大比特率。DDR測試信號(hào)完整性測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)