PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。pcie 有幾種類型,哪個速度快?多端口矩陣測試PCI-E測試信號完整性測試

雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作，但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn)，特 別是當(dāng)采用比較便宜的PCB板材時，就不得不適當(dāng)減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下，還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個連接器實(shí)現(xiàn)可靠信號傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下，整個16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi)，其中主板上芯片封裝、PCB/過孔走線、連接器的損耗總 預(yù)算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預(yù)算為-8dB@8GHz。

整個鏈路的長度需要控制在12英寸以內(nèi)，并且鏈路上只能有一個連接器。如果需要支持更 長的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器，則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對信號進(jìn)行 重新整形和中繼。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預(yù)算，圖中各 個部分的鏈路預(yù)算對于設(shè)計和測試都非常重要，對于測試部分的影響后面會具體介紹。 信息化PCI-E測試服務(wù)熱線被測件發(fā)不出標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E的一致性測試碼型，為什么？

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等方面測試服務(wù)。

綜上所述，PCIe4.0的信號測試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測件的不同可能會 同時用到2個或4個測試通道。對于芯片的測試需要用戶自己設(shè)計測試板；對于主板或者  插卡的測試來說，測試夾具的Trace選擇、測試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了；

在數(shù)據(jù)分析時除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對信號的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動測試軟件都可以為PCle4. 0的測試提供很好的幫助。 為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試？

對于PCIe來說，由于長鏈路時的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號質(zhì)量，在PCIe3.0時代，有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量，但這個功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時刻以及垂直方向的信號判決閾值，PCI-E4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試？廣東PCI-E測試商家

PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化；多端口矩陣測試PCI-E測試信號完整性測試

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點(diǎn)是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進(jìn)行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關(guān)的測試項(xiàng)目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設(shè)置成使用外部信號，這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。多端口矩陣測試PCI-E測試信號完整性測試

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