還要對信號進行放，因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型：直流負載和交流負載。直流負載：探頭看起來象一個對地的直流負載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定，這個電阻阻值越，直流負載越小，阻值越小，直流負載越。交流負載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面：探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面：探頭電容和電感；探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓撲結構；探頭和目標間連線的長度。對于交流負載，我們需要考慮：探測點在傳輸線的位置，總線的拓撲結構和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。SD協議分析儀/訓練器找歐奧！東莞SDIO邏輯分析儀

但昂貴的價格也不是個人所能承受的。作為工程師手頭常備的開發工具，目前有許多入門級的邏輯分析儀設計，整體功能雖然不能和專業儀器相比，但是用較低的成本來實現特定的功能，也是非常成功的設計。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級設計。基于電腦并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統逐步不再配置并口，這類設計已經成為明日黃花，還具有原理學習的價值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機為基礎的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機設計了自己的作品。但這類單片機邏輯分析儀的共同弱點就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎的入門級邏輯分析儀現在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產品主要采用一個USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號觸發和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個數據記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數量”地采樣，因為所有的數據都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個通道，更多的通道數量會成比例地降低高采樣速度。這類產品構造簡單，方便易用，價格便宜，是調試單片機開發工作的好工具。它的缺點主要是采樣速度只有24MHz、8個通道。黃石SDIO邏輯分析儀找哪家eMMC協議分析儀/訓練器廠家就找歐奧！

終比較結果將對“差分信號高于Vref還是低于Vref？”的問題作出解答：對眼隙的eyescan測量是通過使用不同Vref設置進行一系列eyefinder測量完成的。差分信號的默認eyefinder測量使用Vref=0V。通過將Vref增至零以上。歐奧電子是Prodigy在中國區的官方授權合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協議分析儀，包括嵌入式設備用的SDIO協議分析儀,QSPI協議分析儀及訓練器,I3C協議分析儀及訓練器,RFFE協議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協議分析儀及訓練器,車載以太網分析儀，以及各種相關的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號。如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。我們會找到信號與上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足夠高，信號的頂部軌跡將通過Vref，我們便會看到眼的頂端。再將Vref升高一點會導致Vcomp保持在Vlo，表示信號不會升至該電之，將Vref移至零以下會看到眼的下半部。eyescan/eyefinder顯示窗口會在每個信號的eyescan圖下方顯示eyefinder交疊部分，以此顯示eyefinder與eyescan之間的這一關系。

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